1.

国際会議録

国際会議録
Frens,A.M. ; Schmidt,J. ; Chen,W.M. ; Monemar,B.
出版情報: Proceedings of the 16th International Conference on Defects in Semiconductors : Lehigh University, Bethlehem, Pennsylvania, 22-26 July 1991.  Pt.1  pp.357-362,  1992.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 83-87
2.

国際会議録

国際会議録
Frens,A.M. ; Braat,M.E. ; Oosten,A.B.van ; Schmidt,J.
出版情報: Shallow Impurities in Semiconductors : Proceedings of the Fifth International Conference on Shallow Impurities in Semiconductors "Physics and Control of Impurities", International Conference Center Kobe, Japan, 5 to 8 August, 1992.  pp.195-200,  1993.  Aedermannsdorf, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 117-118
3.

国際会議録

国際会議録
Chen,W.M. ; Monemar,B. ; Frens,A.M. ; Bennebroek,M.T. ; Schmidt,J.(invited)
出版情報: Proceedings of the 17th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-17, Gmunden, Austria, July 18-23, 1993.  Pt.3  pp.1345-1352,  1994.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 143-147
4.

国際会議録

国際会議録
Chen,W.M. ; Janzen,E. ; Monemar,B. ; Henry,A. ; Frens,A.M. ; Bennebroek,M.T. ; Schmidt,J.
出版情報: Proceedings of the 17th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-17, Gmunden, Austria, July 18-23, 1993.  Pt.2  pp.1179-1184,  1994.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 143-147
5.

国際会議録

国際会議録
Oosten,A.B.van ; Frens,A.M. ; Schmidt,J.
出版情報: Shallow Impurities in Semiconductors : Proceedings of the Fifth International Conference on Shallow Impurities in Semiconductors "Physics and Control of Impurities", International Conference Center Kobe, Japan, 5 to 8 August, 1992.  pp.87-92,  1993.  Aedermannsdorf, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 117-118
6.

国際会議録

国際会議録
Henning,J.C.M. ; Kessener,Y.A.R.R. ; Koenraad,P.M. ; Leys,M.R. ; Vleuten,W.C.van der ; Wolter,J.H. ; Frens,A.M.
出版情報: Proceedings of the 17th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-17, Gmunden, Austria, July 18-23, 1993.  Pt.1  pp.653-656,  1994.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 143-147
7.

国際会議録

国際会議録
Frens,A.M. ; Bennebroek,M.T. ; Zakrzewski,A. ; Schmidt,J. ; Chen,W.M. ; Janzen,E. ; Lindstrom,J.L. ; Monemar,B.
出版情報: Proceedings of the 17th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-17, Gmunden, Austria, July 18-23, 1993.  Pt.3  pp.1371-1374,  1994.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 143-147
8.

国際会議録

国際会議録
Chen,W.M. ; Singh,M. ; Henry,A. ; Janzen,E. ; Monemar,B. ; Frens,A.M. ; Bennebroek,M.T. ; Schmidt,J. ; Reeson,K.J. ; Gwilliam,R.M.
出版情報: Proceedings of the 16th International Conference on Defects in Semiconductors : Lehigh University, Bethlehem, Pennsylvania, 22-26 July 1991.  Pt.1  pp.251-256,  1992.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 83-87