1.

国際会議録

国際会議録
Freischlad,K.R.
出版情報: Flatness, roughness, and discrete defect characterization for computer disks, wafers, and flat panel displays : 8-9 August 1996, Denver, Colorado.  pp.163-171,  1996.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2862
2.

国際会議録

国際会議録
Freischlad,K.R. ; Cote,J.
出版情報: Laser interferometry VIII--techniques and analysis : 6-7 August, 1996, Denver Colorado.  pp.217-224,  1996.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2860
3.

国際会議録

国際会議録
Freischlad,K.R.
出版情報: Optical inspection and micromeasurements II : 16-19 June 1997, Munich, FRG.  pp.53-61,  1997.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3098