1.

国際会議録
国際会議録
1. Study of the Radiation Damage Induced by High-Energy Gamma-Ray in CdTe Detectors
Chirco, P. ; Zanarini, M. ; Querzola, E. ; Zambelli, G. ; Dusi, W. ; Caroli, E. ; Cavallini, A. ; Fraboni, B. ; Siffert, P. ; Hage-Ali, M.
出版情報: Semiconductors for room-temperature radiation detector applications II : symposium held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.293-,  1997.  Pittsburgh, PA.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 487
2.

国際会議録
国際会議録
2. Analyses of Compensation Related Defects in II-VI Compounds
Castaldini, A. ; Cavallini, A. ; Fernandez, P. ; Fraboni, B. ; Piqueras, J.
出版情報: Semiconductors for room-temperature radiation detector applications II : symposium held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.269-,  1997.  Pittsburgh, PA.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 487
3.

国際会議録
国際会議録
3. Dose and Doping Dependence of Damage Annealing in Fe MeV Implanted InP
Carnera, A. ; Fraboni, B. ; Gasparotto, A. ; Priolo, F. ; Camporese, A. ; Rossetto, G. ; Frigeri, C. ; Cassa, A.
出版情報: Ion-solid interactions for materials modification and processing : symposium held November 27-December 1, 1995, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.829-,  1996.  Pittsburgh.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 396
4.

国際会議録
国際会議録
4. Incorporation Of Highly Concentrated Iron Impurities In InP By High Temperature Ion Implantation
Cesca, T. ; Gasparotto, A. ; Habra, N. El ; Coati, A. ; Fraboni, B. ; Priolo, E. ; Moreira, E.C. ; Ciatto, G. ; Bocchi, C.
出版情報: Defect and impurity engineered semiconductors and devices III : symposium held April 1-5, 2002, San Francisco, California, U.S.A..  pp.297-302,  2002.  Warrendale, Pa.  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 719
5.

国際会議録
国際会議録
5. Role of the Substrate Doping in the Activation of Fe2+ Centers in Fe Implanted InP
Cesca, T. ; Gasparotto, A. ; Mattei, G. ; Verna, A. ; Fraboni, B. ; Impellizzeri, G. ; Priolo, F.
出版情報: Semiconductor defect engineering - materials, synthetic structures and devices : symposium held March 28-April 1, 2005, San Francisco, California, U.S.A..  pp.21-26,  2005.  Warrendale, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 864
6.

国際会議録
国際会議録
6. Electrical and Optical Properties of Defects by Complementary Spectroscopies
Castaldini, A. ; Cavallini, A. ; Fernandez, P. ; Fraboni, B. ; Piqueras, J. ; Polenta, L.
出版情報: Electrically based microstructural characterization : symposium held November 27-30, 1995, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.177-,  1996.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 411
7.

国際会議録
国際会議録
7. Investigation of Deep Energy Levels in II-VI Compounds
Castaldini, A. ; Cavallini, A. ; Fernandez, P. ; Fraboni, B. ; Piqueras, J.
出版情報: Defects in electronic materials II : symposium held December 2-6, 1996, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.605-,  1997.  Pittsburgh, Penn.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 442