1.

国際会議録
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1. Semiconductor laser linewidth measurements for space interferometry applications
Dougherty,D.J. ; Gutierrez,R.C. ; Dubovitsky,S. ; Forouhar,S.
出版情報: Testing, packaging, reliability, and applications of semiconductor lasers IV : 28 January 1999, San Jose, California.  pp.115-122,  1999.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3626
2.

国際会議録
国際会議録
2. InP-based ridge waveguide lasers for wavelength division multiplexing applications
Davis,L.J. ; Mazed,M.A. ; Keo,S.A. ; Singletery,J. ; Vang,T.A. ; Forouhar,S.
出版情報: Wavelength Division Multiplexing Components.  pp.304-312,  1996.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2690
3.

国際会議録
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3. Monolithically Integrated InGaAsP/lnP laser/modulator using identical layer approach for optoelectronic oscillator (Invited Paper)
Wu,C. ; Keo,S. ; Yao,X.S. ; Turner,T.E. ; Davis,L.J. ; Young,M.G. ; Maleki,L. ; Forouhar,S.
出版情報: Semiconductor Lasers III.  pp.384-393,  1998.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3547
4.

国際会議録
国際会議録
4. Semiconductor-laser-based optoelectronics oscillators (Invited Paper)
Yao,X.S. ; Maleki,L. ; Wu,C. ; Davis,L.J. ; Forouhar,S.
出版情報: Semiconductor Lasers III.  pp.262-272,  1998.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3547
5.

国際会議録
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5. Multiwavelength arrays of mode-locked lasers for WDM applications
Davis,L.J. ; Young,M.G. ; Dougherty,D. ; Keo,S.A. ; Muller,R.E. ; Maker,P.D. ; Forouhar,S.
出版情報: Semiconductor Lasers III.  pp.240-244,  1998.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3547