1.

国際会議録
国際会議録
1. Estimating proton induced SEU cross section of SOI CMOS SRAMS
Liu, S.T. ; Liu, H. ; Nelson, D.K. ; Flanery, M. ; Hughes, H.L.
出版情報: Silicon-on-insulator technology and devices XII : proceedings of the international symposium.  pp.107-112,  2005.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2005-03
2.

国際会議録
国際会議録
2. Radiation response of SOI CMOS translstors/4M SRAMs fabricated in UNIBOND substrates
Liu, S.T. ; Heikkila, W. ; Golke, K. ; Stinger, B. ; Flanery, M. ; Hurst, A. ; Panning, G. ; Kirchner, G. ; Jenkins, W.C.
出版情報: Silicon-on-insulator technology and devices XI : proceedings of the international symposium.  pp.449-454,  2003.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2003-5