1.

国際会議録
国際会議録
1. Pathways to sub-10nm x-ray imaging using zone plate lens
Yun, W. ; Feser, M. ; Lyon, A.F. ; Duewer, F.W. ; Wang, Y.
出版情報: Design and microfabrication of novel x-ray optics II : 5-6 August 2004, Denver, Colorado, USA.  pp.133-137,  2004.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5539
2.

国際会議録
国際会議録
2. High-resolution x-ray tomography using laboratory sources [6318-50]
Tkachuk, A. ; Feser, M. ; Cui, H. ; Duewer, F. ; Chang, H. ; Yun, W.
出版情報: Developments in X-ray tomography V : 15-17 August 2006, San Diego, California, USA.  pp.63181D-,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6318
3.

国際会議録
国際会議録
3. Measurement of zone plate efficiencies in the extreme ultraviolet and applications to radiation monitors for absolute spectral emission [6317-23]
Seely, J. ; Holland, G. ; Bremer, C. J. ; Zukowski, T. ; Feser, M. ; Feng, Y. ; Kjornrattanawanich, B. ; Goray, L.
出版情報: Advances in X-ray/EUV optics, components, and applications : 14-16 August 2006, San Diego, California, USA.  pp.63170N-,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6317
4.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
4. Advanced Crash Discrimination Using Crash Impact Sound Sensing (CISS).
Feser, M. ; McConnell, D. ; Brandmeier, T. ; Lauerer, C.
出版情報: 2006 SAE world congress : technical paper.  2006.  Warrendale, Penn..  Society of Automotive Engineers
シリーズ名: Society of Automotive Engineers technical paper series
シリーズ巻号: 2006
5.

国際会議録
国際会議録
5. X-ray microscopy for NDE of micro- and nano-structrues(Invited Paper)
Wang, S. ; Duewer, F. ; Feser, M. ; Scott, D. ; Yun, W.
出版情報: Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems III.  pp.40-48,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5766