1.

国際会議録
国際会議録
1. INFLUENCE OF ION ENERGY IN PLASMA DEPOSITION OF a-SiO2 FILMS
Vallier, L. ; Joubert, O. ; Burke, R. ; Ferrieu, F. ; Devine, R.A.B.
出版情報: Amorphous insulating thin films : symposium held December 1-4, 1992, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.193-196,  1993.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 284
2.

国際会議録
国際会議録
2. MULTISPECTRAL SPECTROSCOPIC ELLIPSOMETRY-A NEW TOOL FOR IN SITU SURFACE ANALYSIS
Ferrieu, F. ; Stehle, J. L. ; Bernoux, F. ; Thomas, O.
出版情報: Laser and particle-beam chemical processing for microelectronics : symposium held December 1-3, 1987, Boston, Massachusetts, USA.  pp.403-410,  1988.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 101
3.

国際会議録
国際会議録
3. *CHARACTERIZATION OF POROUS SILICON: STRUCTURAL, OPTICAL AND ELECTRICAL PROPERTIES
Badoz, P.A. ; Bensahel, D. ; Bomchul, G. ; Ferrieu, F. ; Halimaoui, A. ; Perret, P. ; Regolini, J.L. ; Sagnes, I. ; Vincent, G.
出版情報: Microcrystalline semiconductors : materials science & devices : symposium held November 30-December 4, 1992, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.97-108,  1993.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 283
4.

国際会議録
国際会議録
4. IN-SITU SPECTROSCOPIC ELLIPSOMETRY FOR THE CONTROL OF Si BASED THIN MULTI-LAYERS GROWN BY UHV-CVD
Glowacki, F. ; Larre, A. ; Ferrieu, F. ; Campidelli, Y. ; Bensahel, D.
出版情報: Rapid thermal and integrated processing III : symposium held April 4-7, 1994, San Francisco, California, U.S.A..  pp.69-,  1994.  Pittsburgh, PA.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 342