1.

国際会議録
国際会議録
1. Degradation of Deep Submicron Partially Depleted SOI CMOS iransistors tinder MEV Proton or Gamma Irradiation
Simoen, E. ; Rafi, J.M. ; Mercha, A. ; De Meyer, K. ; Claeys, C. ; Kokkoris, M. ; Kossionides, E. ; Fanourakis, G. ; Mohhaindzadeh, A.
出版情報: Microelectronics technology and devices : SBMICRO 2003 : proceedings of the eighteenth international symposium.  pp.18-27,  2003.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2003-9
2.

国際会議録
国際会議録
2. Radiation damage in deep submicron partially depleted SOI CMOS
Simoen, E. ; Rafi, J.M. ; Mercha, A. ; Serra-Gallifa, X. ; van Meer, H. ; De Meyer, K. ; Claeys, C. ; Kokkoris, M. ; Kossionides, E. ; Fanourakis, G.
出版情報: Silicon-on-insulator technology and devices XI : proceedings of the international symposium.  pp.437-442,  2003.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2003-5