1.

国際会議録
国際会議録
1. Use of an X-ray imaging plate for stress analysis
Schubert,A. ; Kampfe,B. ; Ermrich,M. ; Auerswald,E. ; Trankner,K.
出版情報: EPDIC 3 : proceedings of the Third European Powder Diffraction Conference, held September 25 - 28, 1993, in Vienna, Austria.  Part1  pp.151-156,  1994.  Aedermannsdorf, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 166-169
2.

国際会議録
国際会議録
2. Dielectric Properties in the Pseudobinary System Bi2(Zn1/2Zr1/2｡ｦx/2Tix-2Nb)O2
Seffner,L. ; Gesemann,H.J. ; Ermrich,M.
出版情報: Materials science for high technologies : MASHTEC '90 : proceedings of the International Symposium held in Dresden, German Democtatic Republic April 24-27, 1990.  Pt.1  pp.293-294,  1990.  Aedermannnsdorf, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 62-64
3.

国際会議録
国際会議録
3. X-ray diffractometry at high temperatures
Ermrich,M.
出版情報: EPDIC 2 : proceedings of the Second European Powder Diffraction Conference, held, July 30 - August 1, 1992, in Enschede, The Netherlands.  Pt.1  pp.267-270,  1993.  Aedermannsdorf, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 133-136
4.

国際会議録
国際会議録
4. A New Method for Texture Measurement Based on an X-Ray Imaging Plate System
Brokmeier,H.-G. ; Ermrich,M.
出版情報: ICOTOM-10 : proceedings of the 10th International Conference on Textures of Materials, Clausthal, Germany, 20-24 September 1993.  Part1  pp.119-124,  1994.  Aedermannsdorf, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 157-162
5.

国際会議録
国際会議録
5. Use of an X-ray imaging plate for texture measurements
Brokmeier,H.-G. ; Ermrich,M.
出版情報: EPDIC 3 : proceedings of the Third European Powder Diffraction Conference, held September 25 - 28, 1993, in Vienna, Austria.  Part1  pp.157-162,  1994.  Aedermannsdorf, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 166-169