1.

国際会議録
国際会議録
1. Low-cost 320 x 240 uncooled IRFPA using a conventional silicon IC process
Ishikawa,T. ; Ueno,M. ; Endo,K. ; Nakaki,Y. ; Hata,H. ; Sone,T. ; Kimata,M. ; Ozeki,T.
出版情報: Infrared technology and applications XXV : 5-9 April 1999, Orlando, Florida.  pp.556-564,  1999.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3698
2.

国際会議録
国際会議録
2. 3D-FDTD and experimental analysis of a resonant microcavity probe for high-resolution SNOM
Oshikane,Y. ; Nakagawa,H. ; Kataoka,T. ; Endo,K. ; Inoue,H. ; Hirai,T.
出版情報: Near-field optics : physics, devices, and information processing : 22-23 July 1999, Denver, Colorado.  pp.57-66,  1999.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3791
3.

国際会議録
国際会議録
3. Analysis of hydrological changes in lakes of Asian arid zone by satellite data
Nakayama,Y. ; Tanaka,S. ; Sugimura,T. ; Endo,K.
出版情報: Earth surface remote sensing : 22-25 September 1997, London, UK.  pp.201-210,  1997.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3222
4.

国際会議録
国際会議録
4. Performance of 320×240 uncooled IRFPA with SOI diode detectors
Ishikawa,T. ; Ueno,M. ; Nakaki,Y. ; Endo,K. ; Ohta,Y. ; Nakanishi,J. ; Kosasayama,Y. ; Yagi,H. ; Sone,T. ; Kimata,M.
出版情報: Infrared technology and applications XXVI : 30 July - 3 August 2000, San Diego, USA.  pp.152-159,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4130
5.

国際会議録
国際会議録
5. Silicon infrared focal plane arrays
Kimata,M. ; Yagi,H. ; Ueno,M. ; Nakanishi,J. ; Ishikawa,T. ; Nakaki,Y. ; Kawai,M. ; Endo,K. ; Kosasayama,Y. ; Ohota,Y. ; Sugino,T. ; Sone,T.
出版情報: Photodetectors : materials and devices VI : 22-24 January 2001, San Jose, USA.  pp.286-297,  2001.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4288
6.

国際会議録
国際会議録
6. PtSi FPA with improved CSD operation
Shiraishi,T. ; Yagi,H. ; Endo,K. ; Kimata,M. ; Ozeki,T. ; Kama,K. ; Seto,T.
出版情報: Infrared technology and applications XXII : 8-12 April 1996, Orlando, Florida.  pp.33-43,  1996.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2744
7.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
7. A New Method of Reliability Testing for C-MOS VLSI's Evaluation
Himi,H. ; Hara,K. ; Mori,H. ; Endo,K. ; Nakano,Y.
出版情報: Proceedings of the Fourth International Pacific Conference on Automotive Engineering : Melbourne, Australia, November 8-14, 1987 : mobility, the technical challenge.  pp.292-,  1987.  Warrendale, Pa..  Society of Automotive Engineers
シリーズ名: SAE publication
シリーズ巻号: P-212
8.

国際会議録
国際会議録
8. New polymer for 157-nm single-layer resist based on fluorine-containing acryl copolymer
Ogata,T. ; Endo,K. ; Komano,H. ; Nakayama,T.
出版情報: Advances in Resist Technology and Processing XVIII.  4345  pp.1048-1055,  2001.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4345