1.

国際会議録
国際会議録
1. Testing of optical components for microlithography at 193- and 157-nm
Mann,K.R. ; Apel,O. ; Eckert,G. ; Gorling,C. ; Leinhos,U. ; Schafer,B.
出版情報: Optical Microlithography XIV.  4346  pp.1340-1348,  2001.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4346
2.

国際会議録
国際会議録
2. Morphological texture assessment of oral bone as a screening tool for osteoporosis
Analoui,M. ; Eggertsson,H. ; Eckert,G.
出版情報: Medical Imaging 2001: Image Processing.  4322  pp.1226-1233,  2001.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4322