1.

国際会議録

国際会議録
Jardine, A.P. ; Dudley, M. ; Tolis, G. ; Yao, G.-D. ; Durbin, S.M.
出版情報: Layered structures : heteroepitaxy, superlattices, strain, and metastability : symposium held November 27-December 1, 1989, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.533-538,  1990.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 160
2.

国際会議録

国際会議録
Bakulin, A. ; Durbin, S.M. ; Liu, C. ; Erdmann, J. ; Macrander, A.T. ; Jach, T.
出版情報: Crystal and multilayer optics : 21-22 July, 1998, San Diego, California.  pp.218-223,  1998.  Bellingham, Wash..  SPIE
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3448
3.

国際会議録

国際会議録
Anderson, P.A. ; Kendrick, C.E. ; Lee, T.E. ; Diehl, W. ; Kennedy, V.J. ; Markwitz, A. ; Kinsey, R.J. ; Durbin, S.M.
出版情報: GaN and related alloys - 2003 : symposium held December 1-5, 2003, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.231-236,  2004.  Warrendale, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 798
4.

国際会議録

国際会議録
Pun, A.F. ; Wang, X. ; Meeks, J.B. ; Durbin, S.M. ; Zheng, J.P.
出版情報: Micro- and nanosystems - materials and devices : symposium held March 28-April 1, 2005, San Francisco, California, U.S.A..  pp.285-290,  2005.  Warrendale, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 872
5.

国際会議録

国際会議録
Pun, A. ; Durbin, S.M. ; Kennedy, J. ; Markwitz, A. ; Reeves, R. ; Zheng, J.P.
出版情報: Morphological and compositional evolution of thin films : symposium held December 2-5, 2002, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.317-322,  2003.  Warrendale, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 749
6.

国際会議録

国際会議録
Anderson, P.A. ; Lee, T.-E. ; Kendrick, C.E. ; Diehl, W. ; Kinsey, R.J. ; Kennedy, V.J. ; Markwitz, A. ; Reeves, R.J. ; Durbin, S.M.
出版情報: Photonics: Design, Technology, and Packaging.  pp.90-98,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5277