1.

国際会議録
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1. Investigation of OPC mask distortion effect
Cui,Z. ; Du,J.
出版情報: Lithography for semiconductor manufacturing II : 30 May-1 June, 2001, Edinburgh, UK.  pp.347-353,  2001.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4404
2.

国際会議録
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2. Fine OPC approach with gray-tone coding mask
Du,J. ; Su,J. ; Huang,Q. ; Zhang,Y. ; Guo,Y. ; Du,C. ; Cui,Z.
出版情報: Optical engineering for sensing and nanotechnology (ICOSN '99) : 16-18 June 1999, Yokohama, Japan.  pp.348-351,  1999.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3740
3.

国際会議録
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3. New method for optical proximity correction with gray-level serifs
Du,J. ; Huang,Q. ; Guo,Y. ; Cui,Z.
出版情報: Optical microlithography XI : 25-27 February 1998, Santa Clara, California.  pp.932-938,  1998.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3334
4.

国際会議録
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4. Binary optical element for dividing harmonic waves applied in ICF system
Guo,Y. ; Su,J. ; Du,J. ; Huang,Q. ; Yao,J. ; Zhang,Y. ; Wei,X. ; Yuan,X. ; Yuan,J.
出版情報: Current developments in optical elements and manufacturing : 16-18 September 1998, Beijing, China.  pp.161-167,  1998.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3557
5.

国際会議録
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5. Optical and electrical properties of a-Si1-xCx:H and ｦﾌc-Si1-xCx:H films perpared by using a methane and xylene source
Ma,T. ; Xu,J. ; Wang,L. ; Huang,X. ; Du,J. ; Li,W. ; Chen,K.
出版情報: Third International Conference on Thin Film Physics and Applications : 15-17 April 1997, Shanghai, China.  pp.446-450,  1998.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3175
6.

国際会議録
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6. Modified proximity function for OPC in laser direct writing
Du,J. ; Gao,F. ; Zhang,Y. ; Guo,Y. ; Du,C. ; Cui,Z.
出版情報: Optical microlithography XIII : 1-3 March 2000, Santa Clara, USA.  Part2  pp.1047-1052,  2000.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4000
7.

国際会議録
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7. Optical proximity correction for submicron lithography by laser direct writing
Guo,Y. ; Du,J. ; Huang,Q. ; Yao,J. ; Qiu,C. ; Cui,Z.
出版情報: Optical microlithography XII : 17-19 March 1999, Santa Clara, California.  Part2  pp.686-690,  1999.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3679
8.

国際会議録
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8. Optical coding for storing confidential data
Huang,Q. ; Du,J. ; Guo,Y. ; Wang,D.
出版情報: Algorithms, devices, and systems for optical information processing : 28-29 July 1997, San Diego, California.  pp.287-291,  1997.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3159
9.

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9. "Photoluminescence measurement of SrAl2O4:EU2+,Dy3+ incorporated in glass frits"
Zhang,X. ; Cao,Z. ; Bai,Z. ; Li,L. ; Zhao,Z. ; Du,J.
出版情報: Optical measurement and nondestructive testing : Techniques and applications, 8-10 November 2000, Beijing, China.  pp.209-212,  2000.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4221
10.

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10. Novel large-coupled optical cavity semiconductor lasers and multiactive region light-emitting diodes with high performance
Shen,G. ; Lian,P. ; Guo,X. ; Yin,T. ; Chen,C. ; Wang,G. ; Du,J. ; Cui,B. ; Li,J. ; Liu,Y. ; Gao,G. ; Zou,D. ; Chen,J. ; Ma,X. ; Chen,L.
出版情報: Optical interconnects for telecommunication and data communications, 8-10 November 2000, Beijing, China.  pp.327-330,  2000.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4225