1.

国際会議録
国際会議録
1. Defect Property in He+ Implanted Silicon Probed by Slow Positron Beam
Zhou, X.Y. ; Zhang, T.H. ; Zhang, X.F. ; Weng, H.M. ; Fan, Y.M. ; Du, J.F. ; Han, R.D.
出版情報: Positron annihilation, ICPA-12 : Proceedings of the 12th International Conference on Positron Annihilation, August 6-12, 2000, München, Germany.  pp.475-477,  2001.  Zuerich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 363-365
2.

国際会議録
国際会議録
2. Investigation of EBC Polymer Coating Using a Monoenergetic Positron Beam
Weng, H.M. ; Fan, Y.M. ; Yie, B.J. ; Zhou, X.Y. ; Du, J.F. ; Han, R.D. ; Ma, C.G. ; Ling, C.C.
出版情報: Positron annihilation, ICPA-12 : Proceedings of the 12th International Conference on Positron Annihilation, August 6-12, 2000, München, Germany.  pp.508-510,  2001.  Zuerich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 363-365