1.

国際会議録
国際会議録
1. Spontaneous-emission measurements in broad-area quantum well semiconductor lasers
Wright,M.W. ; Bossert,D.J. ; Dente,G.C. ; Tilton,M.L.
出版情報: Physics and Simulation of Optoelectronic Devices V.  pp.552-560,  1997.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2994
2.

国際会議録
国際会議録
2. Filamentation in high-power tapered semiconductor amplifiers
Bossert,D.J. ; Dente,G.C. ; Tilton,M.L.
出版情報: In-Plane Semiconductor Lasers: from Ultraviolet to Midinfrared.  pp.63-73,  1997.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3001
3.

国際会議録
国際会議録
3. Phase reconstruction from difference equations: a branch point tolerant method
Dente,G.C. ; Tilton,M.L. ; Ulibarri,L.J.
出版情報: Imaging Technology and Telescopes.  pp.292-303,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4091
4.

国際会議録
国際会議録
4. Determination of carrier lifetimes using Hakki-Paoli gain data
Ongstad,A.P. ; Dente,G.C. ; Tilton,M.L. ; Stohs,J. ; Gallant,D.J.
出版情報: In-Plane Semiconductor Lasers: from Ultraviolet to Mid-Infrared II.  pp.28-34,  1998.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3284
5.

国際会議録
国際会議録
5. Time-dependent modeling of the MFA-MOPA
Dente,G.C. ; Tilton,M.L. ; Bossert,D.J. ; Wright,M.W.
出版情報: Laser Diodes and Applications II.  pp.48-69,  1996.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2682
6.

国際会議録
国際会議録
6. Beam quality in multiwatt semiconductor amplifiers (Invited Paper)
Bossert,D.J. ; Dente,G.C. ; Tilton,M.L.
出版情報: In-Plane Semiconductor Lasers: from Ultraviolet to Mid-Infrared II.  pp.63-71,  1998.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3284