1.

国際会議録

国際会議録
Musca, C.A. ; Nguyen, T. ; Antoszewski, J. ; Redfern, D.A. ; Dell, J.M. ; Faraone, L.
出版情報: Design, characterization, and packaging for MEMS and microelectronics II : 17-19 December, 2001, Adelaide, Australia.  pp.314-321,  2001.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4593
2.

国際会議録

国際会議録
Umana-Membreno, G.A. ; Dell, J.M. ; Parish, G. ; Faraone, L. ; Mishra, U.K.
出版情報: Design, characterization, and packaging for MEMS and microelectronics II : 17-19 December, 2001, Adelaide, Australia.  pp.220-227,  2001.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4593
3.

国際会議録

国際会議録
Soh, M.T. ; Savvides, N. ; Musca, C.A. ; Dell, J.M. ; Faraone, L.
出版情報: Device and process technologies for MEMS, microelectronics, and photonics III : 10-12 December 2003, Perth, Australia.  pp.434-441,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5276
4.

国際会議録

国際会議録
Martyniuk, M.P. ; Antoszewski, J. ; Musca, C.A. ; Dell, J.M. ; Faraone, L.
出版情報: Device and process technologies for MEMS, microelectronics, and photonics III : 10-12 December 2003, Perth, Australia.  pp.451-462,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5276
5.

国際会議録

国際会議録
Sewell, R. ; Dell, J.M. ; Musca, C.A. ; Faraone, L.
出版情報: Materials for infrared detectors II : 8-9 July 2002 ,Seattle, Washington, USA.  pp.62-69,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4795
6.

国際会議録

国際会議録
Nguyen, T.T. ; Dell, J.M. ; Musca, C.A. ; Antoszewski, J. ; Faraone, L.
出版情報: Materials for infrared detectors II : 8-9 July 2002 ,Seattle, Washington, USA.  pp.146-153,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4795
7.

国際会議録

国際会議録
Antoszewski, J. ; Dell, J.M. ; Shivalimar, T. ; Martyniuk, M. ; Winchester, K. ; Wehner, J. ; Musca, C.A. ; Faraone, L.
出版情報: Smart structures, devices, and systems : 16-18 December 2002 Melbourne, Australia.  pp.148-155,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4935
8.

国際会議録

国際会議録
Pal, R. ; White, J.K. ; Antoszwski, J. ; Musca, C.A. ; Dell, J.M. ; Faraone, L. ; Kumar, V.
出版情報: Proceedings of the Eleventh International Workshop on the Physics of Semiconductor Devices : (December 11-15, 2001).  VOL-1  pp.45-49,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4746
9.

国際会議録

国際会議録
Dell, J.M. ; Nguyen, T. ; Musca, C.A. ; Antoszewski, J. ; Faraone, L. ; Pal, R.
出版情報: Progress in semiconductors II : electronic and optoelectronic applications : symposium held December 2-5, 2002, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.595-606,  2003.  Warrendale, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 744
10.

国際会議録

国際会議録
Wehner, J.G.A. ; Sewell, R. ; Antoszewski, J. ; Musca, C.A. ; Dell, J.M. ; Faraone, L.
出版情報: Photonics: Design, Technology, and Packaging.  pp.138-145,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5277