1.

国際会議録

国際会議録
Bylsma,R.B. ; Ketelsen,L.J.P. ; Ackerman,D.A. ; Johnson,J.E. ; Kamath,K.K. ; Dean,E.J. ; Asous,W.A. ; Geary,J.M. ; Mak,E. ; Snyder,D.A. ; Stayt,J.W. ; Broutin,S.L. ; Eshelman,M.A. ; Meyers,M.M. ; Scrak,S.P. ; hartman,R.L. ; Koch,T.L.
出版情報: Testing, Reliability, and Applications of Optoelectronic Devices.  pp.173-182,  2001.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4285
2.

国際会議録

国際会議録
Qasaimeh,O. ; Ganikhanov,F.S. ; Dean,E.J. ; Yi,J. ; Eng,L. ; Juluri,R. ; Stayt,J.W. ; Broutin,S.L. ; Johanson,J. ; Bylsma,R.B. ; Ketelsen,L.J.P. ; Johnson,J.E. ; Ackerman,D.A. ; Hybertsen,M.S. ; Roycroft,S. ; Rao,G. ; Pinnington,T. ; O'Cochlain,C.R.
出版情報: Semiconductor Lasers for Lightwave Communication Systems.  pp.60-69,  2001.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4533