1.

国際会議録
国際会議録
1. Noise modeling and performance in 0.1 5-μm fully depleted SOI MOSFET
Pailloncy, G. ; Ihiguez, B. ; Dambrine, G. ; Dehan, M. ; Raskin, J.-P. ; Matsuhashi, H. ; Delatte, P. ; Danneville, F.
出版情報: Noise in devices and circuits II : 26-28 May 2004, Maspalomas, Gran Canaria, Spain.  pp.122-130,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5470
2.

国際会議録
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2. Thermal de-embedding procedure for cryogenic on-wafer high-frequency noise measurement
Delcourt, S. ; Dambrine, G. ; Bourzgui, N. E. ; Danneville, F. ; Laporte, C. ; Fraysse, J.-P. ; Maignan, M.
出版情報: Noise in devices and circuits II : 26-28 May 2004, Maspalomas, Gran Canaria, Spain.  pp.414-421,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5470
3.

国際会議録
国際会議録
3. Characterization of SOI MOSFETs at microwave frequencies
Gillon, R. ; Raskin, J.P. ; Vanhoenacker, D. ; Colinge, J.P. ; Dambrine, G.
出版情報: Proceedings of the Eighth International Symposium on Silicon-on-Insulator Technology and Devices.  pp.149-154,  1997.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 97-23
4.

国際会議録
国際会議録
4. High frequency noise of SOI MOSFETs: performances and limitations (Invited Paper)
Danneville, F. ; Pailloncy, G. ; Siligaris, A. ; Iniguez, B. ; Dambrine, G.
出版情報: Noise in devices and circuits III : 24-26 May, 2005, Austin, Texas, USA.  pp.185-199,  2005.  Bellingham, Washington.  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5844
5.

国際会議録
国際会議録
5. Is SOI CMOS a promising technology for SOCs in high frequency range? Invited
Raynaud, C. ; Gianesello, F. ; Tinella, C. ; Flatresse, P. ; Gwoziecki, R. ; Touret, P. ; Avenier, G. ; Haendler, S. ; Gonnard, O. ; Gouget, G. ; Labourey, G. ; Pretet, J. ; Marin, M. ; Di Frenza, R. ; Axelrad, D. ; Delatte, P. ; Provins, G. ; Roux, J. ; Balossier, E. ; Vildeuil, J.C. ; Boret, S. ; Van Haaren, B. ; Chevalier, P. ; Boissonnet, L. ; Schwartzmann, T. ; Chantre, A. ; Gloria, D. ; De Foucauld, E. ; Scheer, P. ; Pavageau, C. ; Dambrine, G.
出版情報: Silicon-on-insulator technology and devices XII : proceedings of the international symposium.  pp.331-344,  2005.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2005-03
6.

国際会議録
国際会議録
6. High Frequency Noise Sources Extraction in Nanometique MOSFETs
Danneville, F. ; Pailloncy, G. ; Dambrine, G.
出版情報: Advanced experimental methods for noise research in nanoscale electronic devices.  pp.169-176,  2004.  Dordrecht.  Kluwer Academic Publishers
シリーズ名: NATO science series. Series 2, Mathematics, physics and chemistry
シリーズ巻号: 151
7.

国際会議録
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7. Impact of down scaling on high-frequency noise performance of bulk and SOI MOSFETs (Invited Paper)
Dambrine, G. ; Raynaud, C. ; Vanmackelberg, M. ; Danneville, F. ; Pailloncy, G. ; Lepilliet, S. ; Raskin, J.P.
出版情報: Noise in Devices and Circuits.  pp.105-119,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5113
8.

国際会議録
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8. High-frequency noise in FDSOI MOSFETs: a Monte Carlo investigation
Rengel, R. ; Mateos, J. ; Pardo, D. ; Gonzalez, T. ; Martin, M.J. ; Dambrine, G. ; Danneville, F. ; Raskin, J.-P.
出版情報: Noise in Devices and Circuits.  pp.379-386,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5113