1.

国際会議録

国際会議録
Singh,R. ; Chin,A.K. ; Zu,Q. ; Dabkowski,F.P. ; Jollay,R.A. ; Bull,D.J. ; Fanelli,J. ; Goodman,D.S. ; Roblee,J.W. ; Plummer,W.T.
出版情報: Laser diodes and leds in industrial, measurement, imaging, and sensors applications II : testing, packaging, and reliability of semiconductor lasers V : 26-25 January 2000, San Jose, California.  pp.32-41,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3945
2.

国際会議録

国際会議録
Mao,Y. ; Dabkowski,F.P. ; Po,H. ; Chin,A.K.
出版情報: Optical scanning systems: design and applications : 30-31 July, 1997, San Diego, California.  pp.300-307,  1997.  Bellingham, Washington.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3131
3.

国際会議録

国際会議録
Dabkowski,F.P. ; Pendse,D.R. ; Barrett,R.J. ; Chin,A.K. ; Jollay,R. ; Clausen,E.M. ; Hughes,Jr.,L.C. ; Sanders,N.B.
出版情報: Semiconductor Lasers II.  pp.36-49,  1996.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2886
4.

国際会議録

国際会議録
Hu,C. ; Mahajan,S. ; Dabkowski,F.P. ; Pendse,D.R. ; Barrett,R.J. ; Chin,A.K.
出版情報: Semiconductor Lasers II.  pp.59-66,  1996.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2886
5.

国際会議録

国際会議録
Pendse,D.R. ; Chin,A.K. ; Dabkowski,F.P. ; Clausen,E.M.
出版情報: Semiconductor Lasers III.  pp.79-85,  1998.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3547