1.

国際会議録
国際会議録
1. Junction Photovoltage (JPV) Techniques for Ultra-Shallow Junction Characterization
V.N. Faifer ; M.I. Current ; D. Schroder ; T. Clarysse ; W. Vandervorst
出版情報: Analytical and diagnostic techniques for semiconductor materials, devices and processes 7.  pp.135-147,  2007.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: ECS transactions
シリーズ巻号: 11(3)
2.

国際会議録
国際会議録
2. Some Recent Advances in Contactless Silicon Characterization
D. Schroder
出版情報: High purity silicon 9.  pp.321-338,  2006.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: ECS transactions
シリーズ巻号: 3(4)
3.

国際会議録
国際会議録
3. Characterization of Strained Si/SiGe with Raman, Pulsed MOS Capacitor, and Gate Oxide Integrity Measurements
J. Liao ; M. Canonico ; M. Robinson ; D. Schroder
出版情報: SiGe and Ge, materials, processing, and devices.  pp.1211-1222,  2006.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: ECS transactions
シリーズ巻号: 3(7)
4.

国際会議録
国際会議録
4. SOI Low Frequency Noise and Interface Trap Density Measurements with the Pseudo MOSFET
V. A. Kushner ; J. Yang ; J. Choi ; T. Thornton ; D. Schroder
出版情報: Silicon materials science and technology X.  pp.491-502,  2006.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: ECS transactions
シリーズ巻号: 2(2)
5.

国際会議録
国際会議録
5. High-brightness high-power 9xx-nm diode laser bars: developments at Jenoptik Diode Lab
J. Sebastian ; H. Schulze ; R. Hulsewede ; P. Hennig ; J. Meusel ; M. Schroder ; D. Schroder ; D. Lorenzen
出版情報: High-power diode laser technology and applications V : 22-24 January 2007, San Jose, California, USA.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6456
6.

国際会議録
国際会議録
6. Increased power of broad-area lasers (808nm/980nm) and applicability to 10-mm bars with up to 1000Watt QCW
D. Schroder ; J. Meusel ; P. Hennig ; D. Lorenzen ; M. Schroder ; R. Hulsewede ; J. Sebastian
出版情報: High-power diode laser technology and applications V : 22-24 January 2007, San Jose, California, USA.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6456
7.

国際会議録
国際会議録
7. Highly reliable high-power AlGaAs/GaAs 808 nm diode laser bars
R. Hulsewede ; H. Schulze ; J. Sebastian ; D. Schroder ; J. Meusel ; P. Hennig
出版情報: High-power diode laser technology and applications V : 22-24 January 2007, San Jose, California, USA.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6456