1.

国際会議録
国際会議録
1. Optical properties and defect structure of MOVPE InGaN films
Cremades, A. ; Albrecht, M. ; Ulloa, J. M. ; Piqueras, J. ; Strunk, H. P. ; Hanser, D. ; Davis, R. F.
出版情報: Optical microstructural characterization of semiconductors : sympoisum held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.81-,  2000.  Warrendale, Pa..  MRS-Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 588
2.

国際会議録
国際会議録
2. Effect of Thermal and Mechanical Treatments on the Cathodoluminescence of Tin and Titanium Oxides
Maestre, D. ; Plugaru, R. ; Cremades, A. ; Piqueras, J.
出版情報: Spatially resolved characterization of local phenomena in materials and nanostructures : symposium held December 2-5, 2002, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.73-156,  2003.  Warrendale, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 738
3.

国際会議録
国際会議録
3. CHARACTERIZAITON OF FLAME GROWN DIAMOND FILMS BY LUMINESCENCE AND EPR
Pereira, L. ; Pereira, E. ; Tavares, C. ; Neto, M. ; Cremades, A. ; Piqueras, J. ; Jimenez, J. ; Martin, P.
出版情報: Microcrystalline and nanocrystalline semiconductors : Symposium held November 29-December 2, 1994, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.811-,  1995.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 358