1.

国際会議録
国際会議録
1. *THE ORIGINS OF HIGH SPATIAL RESOLUTION SECONDARY ELECTRON MICROSCOPY
Scheinfein, M.R. ; Drucker, J.S. ; Liu, J. ; Weiss, J.K. ; Hembree, G.G. ; Cowley, J.M.
出版情報: Atomic-scale imaging of surfaces and interfaces : symposium held November 30-December 2, 1992, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.253-260,  1993.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 295
2.

国際会議録
国際会議録
2. HIGH RESOLUTION STEM IMAGES AND NANODIFFRACTION PATTERNS ON HIGH Tc SUPERCONDUCTOR YBa2Cu3O7-x
Ou, H.-J. ; Higgs, A.A. ; Cowley, J.M.
出版情報: High resolution microscopy of materials : symposium held November 29-December 1, 1988, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.223-228,  1989.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 139