1.

国際会議録
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1. SUBSTRATE AND PARTICLE DEPENDENT DEEP LEVEL GENERATION IN SILICON BY MeV PARTICLE BEAMS
Trauwaert, M.-A. ; Vanhellemont, J. ; Simoen, E. ; Claeys, C. ; Johlander, B. ; Harboe-Sorensen, R. ; Adams, L. ; Clauws, P.
出版情報: Beam-solid interactions : fundamentals and applications : symposium held November 30-December 4, 1992, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.93-98,  1993.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 279
2.

国際会議録
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2. THE BEHAVIOUR OF OXYGEN IN OXYGENATED N-TYPE HIGH-RESISTIVITY FLOAT-ZONE SILICON
Simoen, E. ; Claeys, C. ; Job, R. ; Ulyashin, A.G. ; Fahrner, W.R. ; Tonelli, G. ; Degryse, O. ; Clauws, P.
出版情報: Semiconductor silicon 2002 : proceedings of the ninth International Symposium on Silicon Materials Science and Technology.  pp.912-924,  2002.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2002-2
3.

国際会議録
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3. THE BEHAVIOUR OF OXYGEN IN OXYGENATED N-TYPE HIGH-RESISTIVITY FLOAT-ZONE SILICON
Simoen, E. ; Claeys, C. ; Job, R. ; Ulyashin, A.G. ; Fahrner, W.R. ; Tonelli, G. ; Degryse, O. ; Clauws, P.
出版情報: Semiconductor silicon 2002 : proceedings of the ninth International Symposium on Silicon Materials Science and Technology.  pp.912-926,  2002.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2002-2
4.

国際会議録
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4. ON THE ELECTRICAL ACTIVITY OF OXYGEN-RELATED EXTENDED DEFECTS IN SILICON
Vanhellemont, J. ; Simoen, E. ; Bosman, G. ; Claeys, C. ; Kaniava, A. ; Gaubas, E. ; Blondeel, A. ; Clauws, P.
出版情報: Proceedings of the Seventh International Symposium on Silicon Materials Science and Technology.  pp.670-683,  1994.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 1994-10
5.

国際会議録
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5. DEGRADATION AND RECOVERY OF BORON DOPED STRAINED SILICON GERMANIUM LAYERS AFTER 1-MeV ELECTRON IRRADIATION
Ohyama, H. ; Vanhellemont, J. ; Trauwaert, M.-A. ; Poortmans, J. ; Caymax, M. ; Clauws, P.
出版情報: Semiconductor heterostructures for photonic and electronic applications : symposium held November 30-December 4, 1992, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.433-438,  1993.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 281
6.

国際会議録
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6. Tin Doping Effects in Silicon*
Simoen, E. ; Claeys, C. ; Neimash, V.B. ; Kraitchinskii, A. ; Kras'ko, M. ; Puzenko, O. ; Blondeel, A. ; Clauws, P.
出版情報: High Purity Silicon VI : proceedings of the sixth International Symposium.  pp.223-235,  2000.  Bellingham, Wash..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2000-17
7.

国際会議録
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7. Monitoring of Neutron Transmutation Doped Silicon Recombination Properties by Microwave Absorption Transient Techniques
Gaubas, E. ; Vanhellemont, J. ; Simoen, E. ; Claeys, C. ; Clauws, P. ; Kraner, H.W. ; Vilkelis, G.
出版情報: Proceedings of the Fourth International Symposium on High Purity Silicon.  pp.439-449,  1996.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 96-13
8.

国際会議録
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8. Accurate Infrared Absorption Measurement of Interstitial and Precipitated Oxygen in Heavily Doped Silicon
De Gryse, O. ; Clauws, P. ; Rossou, L. ; Van Landuyt, J. ; Vanhellemont, J. ; Mondelaers, W.
出版情報: Proceedings of the Fifth International Symposium on High Purity Silicon V.  pp.398-409,  1998.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 98-13
9.

国際会議録
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9. Low Temperature Anneal of the Divacancy in P-Type Silicon
Trauwaert, M.-A. ; Vanhellemont, J. ; Maes, H. E. ; Bavel, A.-M. Van ; Langouche, G. ; Stesmans, A. ; Clauws, P.
出版情報: Defect and impurity engineered semiconductors and devices : symposium held April 17-21, 1995, San Francisco, California, U.S.A..  pp.953-,  1995.  Pittsburgh, PA.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 378
10.

国際会議録
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10. A BEEM Study of PtSi Schottky Contacts on Ion-Milled Si
Ru, G-P. ; Detavernier, C. ; Donaton, R. A. ; Blondeel, A. ; Clauws, P. ; Meirhaeghe, R. L. Van ; Cardon, F. ; Maex, K. ; Qu, X-P. ; Zhu, S-Y. ; Li, B-Z.
出版情報: Advanced interconnects and contacts : symposium held April 5-7, 1999, San Francisco, California, U.S.A..  pp.201-,  1999.  Warrendale, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 564