1.

国際会議録

国際会議録
Chu,P.-T. ; Cho,C.W. ; Hsiao,H.C. ; Wu,J.S. ; Hung,C.C. ; Chao,Y.C
出版情報: Microelectronic Manufacturing Yield, Reliability, and Failure Analysis III.  pp.19-26,  1997.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3216
2.

国際会議録

国際会議録
Chu,P.-T. ; Chen,S.-F. ; Wu,J.-S. ; Hung,C.-C. ; Lin,T.-H. ; Chao,Y.-C.
出版情報: Microelectronic Device and Multilevel Interconnection Technology II.  pp.285-292,  1996.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2875
3.

国際会議録

国際会議録
Chu,P.-T. ; Chang,K.-H. ; Peng,T.-M. ; Chang,C.-H. ; Yen,S.-W. ; Lin,T.-H. ; Chang,C.-R.
出版情報: Microelectronic Manufacturing Yield, Reliability, and Failure Analysis.  pp.66-76,  1995.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2635
4.

国際会議録

国際会議録
Ho,G.H. ; Cheng,A.T. ; Chen,C.-J. ; Fang,C.-K. ; Li,M.-C. ; Chang,I-C. ; Chu,P.-T. ; Chu,Y.C. ; Shu,K.-Y. ; Huang,C.-Y. ; Yeh,H.-L. ; Shiao,H.C. ; Lan,H.K.
出版情報: Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XV.  pp.289-296,  2001.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4344