1.

国際会議録
国際会議録
1. The benefit of SOI technologies for low-voltage RFID applications
Viliard, P. ; Jomaah, J. ; Gomez, B. ; De Pontcharra, J. ; Save, D. ; Chouteau, S. ; Mackowiak, E.
出版情報: Silicon-on-insulator technology and devices XI : proceedings of the international symposium.  pp.243-248,  2003.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2003-5
2.

国際会議録
国際会議録
2. Extraction of high frequency noise parameters of 0.25 μm partially depleted silicon-on-insulator MOSFET impact of the high resistivity substrate
Daviot, R. ; Rozeau, O. ; Chouteau, S. ; Abouchi, N. ; De Pontcharra, J. ; Groujilet, A. ; Tosti, L.
出版情報: Silicon-on-insulator technology and devices XI : proceedings of the international symposium.  pp.473-478,  2003.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2003-5