1.

国際会議録
国際会議録
1. Epitaxial Layer Lifetime Characterization in the Frequency Domain
Park, J.E. ; Schroder, D.K. ; Tan, SE. ; Choi, B.D. ; Fletcher, M. ; Buczkowski, A. ; Kirscht, F.
出版情報: High Purity Silicon VI : proceedings of the sixth International Symposium.  pp.383-395,  2000.  Bellingham, Wash..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2000-17
2.

国際会議録
国際会議録
2. Gate Oxide Integrity for Polysilicon Thin-Film Transistors: A Comparative Study for ELC, MILC, and SPC Crystallized Active Polysilicon Layer
Choi, D.C. ; Choi, B.D. ; Jung, J.Y. ; Park, H.H. ; Seo, J.W. ; Lee, K.Y. ; Chung, H.K.
出版情報: Amorphous and nanocrystalline silicon science and technology - 2005 : symposium held March 28-April 1, 2005, San Francisco, California, U.S.A..  pp.647-652,  2005.  Warrendale, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 862
3.

国際会議録
国際会議録
3. Threshold Voltage Optimization with Ion Shower Implantation for Polysilicon Thin-Film Transistors
Choi, B.D. ; Choi, D.C. ; Im, C.Y. ; Choi, K.H. ; Yu, C.H. ; Kakkad, R. ; Chung, H.K.
出版情報: Amorphous and nanocrystalline silicon science and technology - 2005 : symposium held March 28-April 1, 2005, San Francisco, California, U.S.A..  pp.653-658,  2005.  Warrendale, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 862