1.

国際会議録
国際会議録
1. Vertical O3 profiling and error analysis by UV radiometer onboard KSR-III
Hwang, S.-H. ; Lee, S.-J. ; Kim, J. ; Cho, H. K. ; Chung, E.-S.
出版情報: Passive optical remote sensing of the atmosphere and clouds IV : 9-10 November 2004, Honolulu, Hawaii, USA.  pp.290-298,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5652
2.

国際会議録
国際会議録
2. Aerosol and CO loading in the atmosphere observed by the MODIS and MOPfIT: Russian forest fire case
Kim, J. ; Choi, S. H. ; Cho, H. K. ; Lee, S. H. ; Edwards, D. P. ; Lee, H. C. ; Lim, H. S. ; Choi, G. H.
出版情報: Passive optical remote sensing of the atmosphere and clouds IV : 9-10 November 2004, Honolulu, Hawaii, USA.  pp.263-269,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5652
3.

国際会議録
国際会議録
3. Fabrication and characterization of InGaN Nano-scale dots for blue and green LED applications
Kim, K. S. ; Hong, C-H. ; Lee, W-H. ; Kim, C. S. ; Cha, O. H. ; Yang, G. M. ; Suh, E-K. ; Lim, K. Y. ; Lee, H. J. ; Cho, H. K. ; Lee, J. Y. ; Seo, J. M.
出版情報: GaN and related alloys - 1999 : symposium held November 28-December 3, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.W11.74.1-,  2000.  Warrendale, Pa..  MRS-Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 595
4.

国際会議録
国際会議録
4. Micro-tailoring micro- and nano-composites: towards variable orthotropy for bio-mimicking materials
Moeller, D. K. ; Cho, H. K. ; Derenne, K. L. ; Shkel, Y. M.
出版情報: Smart structures and materials 2005 : Smart structures and integrated system : 7-10 March 2005, San Diego, California, USA.  pp.50-56,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5764
5.

国際会議録
国際会議録
5. Photocurrent spectroscopy investigations of Mg-related defects levels in p-type GaN
Chung, S. J. ; Cha, O. H. ; Cho, H. K. ; Jeong, M. S. ; Hong, CH. ; Suh, E-K. ; Lee, H. J.
出版情報: GaN and related alloys - 1999 : symposium held November 28-December 3, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.W11.83.1-,  2000.  Warrendale, Pa..  MRS-Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 595
6.

国際会議録
国際会議録
6. Si Delta Doped GaN Grown by Low-Pressure Metalorganic Chemical Vapor Deposition
Kim, J-H. ; Yang, G. M. ; Choi, S. C. ; Choi, J. Y. ; Cho, H. K. ; Lim, K. Y. ; Lee, H. J.
出版情報: GaN and related alloys : symposium held November 30-December 4, 1998, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.G3.49.1-,  1999.  Warrendale, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 537
7.

国際会議録
国際会議録
7. Particle Size Reduction of Biomaterials Using Cryogenic Milling Process
Lee, S. M. ; Park, H. J. ; Kim, S. S. ; Choi, T. H. ; Kim, E. Z. ; Na, K. H. ; Cho, H. K. ; Rhee, K. Y.
出版情報: PRICM 5 : the Fifth Pacific Rim International Conference on Advanced Materials and Processing, November 2-5, 2004, Beijing, China.  pp.2403-2406,  2005.  Uetikon-Zuerich.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 475-479(3)
8.

国際会議録
国際会議録
8. Growth, Characterization, and Application of High Power III-Nitride Ultraviolet Emitters
Ren, Z. ; Jeon, S. R. ; Gherasimova, M. ; Cui, G. ; Han, J. ; Peng, H. ; Song, Y. K. ; Nurmikko, A. V. ; Zhou, L. ; Goetz, W. ; Krames, M. ; Cho, H. K.
出版情報: GaN, AIN, InN and their alloys : symposium held November 29-December 3, 2004, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.21-26,  2005.  Warrendale, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 831
9.

国際会議録
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9. A Study of the Degradation Mechanism for Carbon Nanotubes in Field Emitter Applications
Kim, D. H. ; Kim, T. S. ; Ahn, B. K. ; Shin, H. Y. ; Lee, D. G. ; Cho, H. K. ; Cho, Y. R.
出版情報: PRICM 5 : the Fifth Pacific Rim International Conference on Advanced Materials and Processing, November 2-5, 2004, Beijing, China.  pp.1771-1776,  2005.  Uetikon-Zuerich.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 475-479(3)
10.

国際会議録
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10. Statistical analysis of CD-SEM measurement and process control in the indistinguishable multi-process patterns [6152-100]
Yang, D. S. ; Jung, M. H. ; Lee, Y. M. ; Koh, C. W. ; Yeo, G. S. ; Woo, S. G. ; Cho, H. K. ; Moon, J. T.
出版情報: Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XX.  pp.61522K-,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6152