1.

国際会議録
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1. New independent component analysis (ICA) method and its application to remote sensing images
Zhang,X. ; Chen,C.H.
出版情報: Image and signal processing for remote sensing VII : 18-21 September 2001, Toulouse, France.  pp.146-156,  2001.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4541
2.

国際会議録
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2. New image-compression algorithm using wavelet analysis
Cheng,T.-H. ; Chen,C.H.
出版情報: Visual information processing VII : 13-14 April 1998, Orlando, Florida.  pp.48-55,  1998.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3387
3.

国際会議録
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3. Independent component analysis for remote sensing study
Chen,C.H. ; Zhang,X.
出版情報: Image and signal processing for remote sensing V : 22-24 September 1999, Florence, Italy.  pp.150-158,  1999.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3871
4.

国際会議録
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4. Cross gain modulation in semiconductor optical amplifier
Fan,H. ; Wu,C. ; Dutta,N.K. ; Koren,U. ; Chen,C.H. ; Piccirilli,A.B.
出版情報: Physics and simulation of optoelectronic devices VII : 25-29 January 1999, San Jose, USA.  pp.250-256,  1999.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3625
5.

国際会議録
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5. Four-wave mixing in a semiconductor optical amplifier
Wu,C. ; Fan,H. ; Dutta,N.K. ; Koren,U. ; Chen,C.H. ; Piccirilli,A.B.
出版情報: Testing, packaging, reliability, and applications of semiconductor lasers IV : 28 January 1999, San Jose, California.  pp.158-166,  1999.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3626
6.

国際会議録
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6. Stress effect on the via crack of IMD structure in scrubber processing
Huang,D.F. ; Yeh,R.S. ; Lin,T.-Y. ; Hung,C.-C. ; Lin,T.C. ; Chang,C.H. ; Chen,C.H.
出版情報: Device and process technologies for MEMS and microelectronics : 27-29 October 1999, Royal Pines Resort, Queensland, Australia.  pp.377-384,  1999.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3892
7.

国際会議録
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7. Impact of mask errors on full chip error budgets
Schellenberg,F.M. ; Boksha,V.V. ; Cobb,N.B. ; Lai,J.C. ; Chen,C.H. ; Mack,C.A.
出版情報: Optical microlithography XII : 17-19 March 1999, Santa Clara, California.  Part1  pp.261-275,  1999.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3679
8.

国際会議録
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8. Closed-loop fiber optic gyroscope and related components
Zhou,S.Q. ; Wu,Y.J. ; Xia,L.Q. ; Li,R.L. ; Shang,Q.L. ; Li,H. ; Chen,C.H. ; Jang,Z.B.
出版情報: Fiber optic gyros : 20th anniversary conference : 5-6 August 1996, Denver, Colorado.  pp.426-433,  1996.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2837
9.

国際会議録
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9. Multiresolution wavelet analysis for SAR image segmentation using statistical separability measures
Chen,C.H. ; Du,Y.
出版情報: Image and signal processing for remote sensing IV : 21-23 September 1998, Barcelona, Spain.  pp.104-110,  1998.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3500
10.

国際会議録
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10. Laser desorption mass spectrometry for high-throughput DNA analysis and its applications
Chen,C.H. ; Golovlev,V.V. ; Taranenko,N.I. ; Allman,S.L. ; Isola,N.R. ; Potter,N.T. ; Matteson,K.J. ; Chang,L.Y.
出版情報: Proceedings of advances in fluorescence sensing technology IV : 24-27 January 1999, San Jose, California.  pp.338-345,  1999.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3602