1.

国際会議録

国際会議録
Opsal, J.L. ; Leng, J. ; Ke, C.-M. ; Chen, P.-H. ; Chen, J.-H. ; Ku, Y.-C.
出版情報: Advanced characterization techniques for optics, semiconductors, and nanotechnologies : 3-5 August 2003, San Diego, California, USA.  pp.6-18,  2003.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5188
2.

テクニカルペーパー

テクニカルペーパー
Chen, J.-H. ; Faeth, G.M.
出版情報: AIAA paper.  pp.1-12,  2000.  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : Aerospace Sciences Meeting and Exhibit
シリーズ巻号: 2000
3.

テクニカルペーパー

テクニカルペーパー
Chen, J.-H. ; Faeth, G. M.
出版情報: AIAA paper.  pp.1-12,  1999.  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : AIAA Fluid Dynamics Conference
シリーズ巻号: 1999
4.

テクニカルペーパー

テクニカルペーパー
Chen, J.-H. ; Wu, J.-S. ; Faeth, G.M.
出版情報: AIAA paper.  pp.1-18,  1998.  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : Aerospace Sciences Meeting and Exhibit
シリーズ巻号: 1998
5.

国際会議録

国際会議録
Chen, J.-H. ; Chen, K.-H. ; Hsieh, P.-J. ; Su, D.-C.
出版情報: Reliability of Optical Fiber Components, Devices, Systems, and Networks II.  pp.260-267,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5465
6.

国際会議録

国際会議録
Chiou, S.Y. ; Lei, H. ; Liu, W.J. ; Chu, M.J. ; Chiang, D. ; Tuan, S. ; Hong, C.-L. ; Chang, M. ; Chen, J.-H. ; Chan, K.K. ; Qian, Q.-D. ; Cai, L. ; Pang, L.Y.
出版情報: Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XVI.  Part One  pp.23-34,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4689
7.

国際会議録

国際会議録
Cai, L. ; Chen, J.-H. ; Tu, L.-H. ; Chu, B. ; Chen, N. ; Fang, T.Y. ; Shieh, W.B.
出版情報: 22nd Annual BACUS Symposium on Photomask Technology.  Part One  pp.253-262,  2002.  Bellingham, WA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4889
8.

国際会議録

国際会議録
Hung, K. ; Lin, D. ; Chou, R.L. ; Yang, S.C. ; Lee, D. ; Tseng, A. ; Unno, H. ; Chen, J.-H. ; Huang, J. H.
出版情報: Photomask and Next-Generation Lithography Mask Technology IX.  pp.666-672,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4754
9.

国際会議録

国際会議録
Chang, C.-H. ; Hsieh, C.-H. ; Tzu, S.-D. ; Dai, C.-M. ; Lin, B. J. ; Pang, L. ; Qian, Q.-D. ; Chen, J.-H. ; Huang, J. H.
出版情報: Photomask and Next-Generation Lithography Mask Technology IX.  pp.622-629,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4754
10.

国際会議録

国際会議録
Ke, C.-M. ; Yu, S.-S. ; Wang, Y.-H. ; Chou, Y.-J. ; Chen, J.-H. ; Lee, B.-H. ; Chu, H.-Y. ; Lin, H.-T. ; Gau, T.-S. ; Lin, C.-H. ; Ku, Y.-C. ; Lin, B.J. ; Huang, J. ; Hsu, J.J. ; Liu, V. ; Hetzer, D. ; Yap, L. ; Yang, W. ; Araki, K.
出版情報: Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XVIII.  pp.597-604,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5375