1.

国際会議録
国際会議録
1. Azimuth calibration method in ellipsometer with imaging spectrograph
Chegal, W. ; Cho, Y.J. ; Kim, H.J. ; Cho, H.M. ; Lee, Y.W. ; Kim, S.H.
出版情報: Imaging spectrometry X : 2-4 August 2004, Denver, Colorado, USA.  pp.400-405,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5546
2.

国際会議録
国際会議録
2. Determination of optical properties of titanium dioxide thin films on different substrates by using spectroscopic ellipsometry
Kim, H.J. ; Cho, Y.J. ; Cho, H.M. ; Chegal, W. ; Lee, Y.W. ; Kim, S.Y.
出版情報: Optical constants of materilas for UV to x-ray wavelengths : 4-5 August 2004, Denver, Colorado, USA.  pp.165-171,  2004.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5538
3.

国際会議録
国際会議録
3. Fast data acquisition in imaging ellipsometry using tour-frame method
Chegal, W. ; Cho, Y. J. ; Cho, H. M. ; Lee, Y. W. ; Kim, S. H.
出版情報: Advanced sensor systems and applications II : 8-12 November 2004, Beijing, China.  pp.839-848,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5634