1.

国際会議録
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1. X-RAY DOUBLE CRYSTAL ANALYSIS OF STRUCTURE AND STRESS RELAXATION IN SOLID PHASE EPITAXIAL CaF2 AND Ge/CaF2 FILMS ON (111) Si BY IN SITU RAPID ISOTHERMAL PROCESSING
Chaudhuri, J. ; Hashmi, F. ; Singh, R. ; Thakur, R. P. S.
出版情報: Heteroepitaxy of dissimilar materials : symposium held April 29-May 2, 1991, Anaheim, California, U.S.A..  pp.199-206,  1991.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 221
2.

国際会議録
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2. X-RAY ROCKING CURVE ANALYSIS OF S-IMPLANTED GaAs
Fatemi, M. ; Thompson, P.E. ; Chaudhuri, J. ; Shah, S.
出版情報: Advanced surface processes for optoelectronics : symposium held April 5-8, 1988, Reno, Nevada, U.S.A..  pp.93-96,  1988.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 126
3.

国際会議録
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3. Epitaxial Growth of SiC on Sapphire Substrates With an AIN Buffer Layer
Edgar, J.H. ; Sywe, B.S. ; Yu, Z.J. ; Burckhard, S.R. ; Chaudhuri, J.
出版情報: Proceedings of the Twelfth International Symposium on Chemical Vapor Deposition.  pp.214-220,  1993.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 1993-2
4.

国際会議録
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4. GROWTH AND CHARACTERIZATION OF LAYERED STRUCTURES OF SILICON CARBIDE AND ALUMINUM NITRIDE
Sywe, B.S. ; Yu, Z.J. ; Edgar, J.H. ; Chaudhuri, J.
出版情報: Semiconductor heterostructures for photonic and electronic applications : symposium held November 30-December 4, 1992, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.787-792,  1993.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 281
5.

国際会議録
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5. ANALYSIS OF THE STRAIN PROFILE IN THIN Au/Ni MULTILAYERS BY X-RAY DIFFRACTION
Chaudhuri, J. ; Gondhalekar, V. ; Jankowski, A.F.
出版情報: Advances in surface and thin film diffraction : symposium held November 27-29, 1990, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.211-218,  1991.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 208
6.

国際会議録
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6. Oxidation of Aluminum Nitride for Defect Characterization
Edgar, James H. ; Gu, Z. ; Taggart, K. ; Chaudhuri, J. ; Nyakiti, L. ; Lee, R. G. ; Witt, R.
出版情報: GaN, AlN, InN and related materials : symposium held November 28-December 2, 2005, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.505-510,  2006.  Warrendale, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 892
7.

国際会議録
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7. ANALYSIS OF STRAIN RELAXATION IN Au/Ni MULTILAYERS BY X-RAY DIFFRACTION
Chaudhuri, J. ; Gondhalekar, V. ; Shah, S. ; Jankowski, A.F.
出版情報: Layered structures : heteroepitaxy, superlattices, strain, and metastability : symposium held November 27-December 1, 1989, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.195-202,  1990.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 160
8.

国際会議録
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8. X-RAY DIFFRACTION ANALYSIS OF Au/Ni MULTILAYERS
Chaudhuri, J. ; Shah, S. ; Jankowski, A.F.
出版情報: Multicomponent ultrafine microstructures : symposium held November 30-December 1, 1988, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.231-238,  1989.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 132
9.

国際会議録
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9. Effects of Surface Preparation on Epitaxial GaN on 6H-SiC Deposited Via MOCVD
Xie, Z. Y. ; Wei, C. H. ; Li, L. Y. ; Edgar, J. H. ; Chaudhuri, J. ; Ignatiev, C.
出版情報: GaN and related alloys : symposium held November 30-December 4, 1998, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.G3.39.1-,  1999.  Warrendale, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 537
10.

国際会議録
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10. High-Resolution X-ray Diffraction and X-ray Topography Study of GaN on Al2O3
Chaudhuri, J. ; Ng, M. Hooe ; Koleske, D. D. ; Wickenden, A. E. ; Henry, R. L.
出版情報: Wide-bandgap semiconductors for high power, high frequency, and high temperature : symposium held April 13-15, 1998, San Francisco, California, U.S.A..  pp.315-,  1998.  Warrendale, Penn..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 512