1.

国際会議録
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1. Optical thin films serving biotechnology: fluorescence enhancement of DNA-chip
Barritault, P. ; Getin, S. ; Chaton, P. ; Andre, B. ; Vinet, F. ; Fouque, B.
出版情報: Advances in optical thin films : 30 September-3 October 2003, St. Etienne, France.  pp.12-20,  2004.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5250
2.

国際会議録
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2. Polarized gonio fluorimetric measurements of DNA-chip: a step forward Towards fluorescence quantification
Barritault, P. ; Getin, S. ; Chaton, P. ; Vinet, F. ; Fouquee, B. ; Stehle, J.L.
出版情報: Biomedical nanotechnology architectures and applications : 20-24 January 2002, San Jose, USA.  pp.9-16,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4626
3.

国際会議録
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3. Near-field optical storage system including evanescent wave amplifier meta material based on photonic crystal [6182-48]
Mimouni, S. ; Desieres, Y. ; Gidon, S. ; Poupinet, L. ; Chaton, P. ; Royer, P.
出版情報: Photonic Crystal Materials and Devices III (i.e. V).  pp.61821L-,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6182
4.

国際会議録
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4. Some potential uses of photothermal detection for DNA microarray quantification
Getin, S. ; Chaton, P. ; Vinet, F. ; Poupinet, L. ; Pelle, C. ; Puget, P. ; Ginot, F. ; Novelli, A.
出版情報: Microarrays and Combinatorial Technologies for Biomedical Applications: Design, Fabrication, and Analysis.  pp.12-17,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4966
5.

国際会議録
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5. A new analysis strategy for CD metrology using rapid photo goniometry method
Petit, J. ; Barritault, P. ; Hazart, J. ; Chaton, P. ; Boher, P. ; Luet, M. ; Leroux, T.
出版情報: Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XVIII.  pp.210-221,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5375
6.

国際会議録
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6. Innovative rapid photogoniometry method for CD metrology
Boher, P. ; Luet, M. ; Leroux, T. ; Petit, J. ; Barritault, P. ; Hazart, J. ; Chaton, P.
出版情報: Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XVIII.  pp.1302-1313,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5375
7.

国際会議録
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7. Fluorescence of mitigated laser damage in fused silica
Barritault, P. ; Bouchut, Ph. R. ; Bercegol, H. ; Chaton, P. ; Ravel, G.
出版情報: Laser-Induced Damage in Optical Materials: 2004.  pp.188-196,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5647