1.

国際会議録
国際会議録
1. In-Line Metrology: Implementation of a Novel FTIR Thickness Monitor in the EPI Centura Silicon Deposition Cluster Tool
Waldhauer, A. ; Rosenthal, P. ; Charpenay, S. ; Zhang, W. ; Comita, P.
出版情報: Chemical vapor deposition : proceedings of the Fourteenth International Conference and EUROCVD-11.  pp.668-675,  1997.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 97-25
2.

国際会議録
国際会議録
2. SOME THERMODYNAMIC PROPERTIES OF NiAl CALCULATED BY MOLECULAR DYNAMICS SIMULATIONS
Clapp, P.C. ; Rubins, M.J. ; Charpenay, S. ; Rifkin, J.A. ; Yu, Z.Z. ; Voter, A.F
出版情報: High-Temperature ordered intermetallic alloys III : symposium held November 29-December 1, 1988, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.29-36,  1989.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 133
3.

国際会議録
国際会議録
3. In-situ particle size and shape analysis during flame synthesis of nanosize powders
Farquharson, S. ; Charpenay, S. ; DiTaranto, M.B. ; Rosenthal, P.A. ; Zhu, W. ; Pratsinis, S.E.
出版情報: Synthesis and characterization of advanced materials.  pp.170-186,  1998.  Washington, DC.  American Chemical Society
シリーズ名: ACS symposium series
シリーズ巻号: 681
4.

国際会議録
国際会議録
4. In Situ Fourier Transform Infrared Spectroscopy for Real-Time Diagnostics of Thin-Film Processes
Solomon, P. R. ; Charpenay, S. ; Zhang, W. ; Bonanno, A. S. ; Rosenthal, P. A. ; Cosgrove, J. E. ; Kinsella, K. K. ; Kung, P. J.
出版情報: In situ process diagnostics and intelligent materials processing : symposium held December 2-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.15-,  1998.  Warrendale, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 502