1.

国際会議録

国際会議録
Cederquist,J.N. ; Schwartz,C.R. ; Eismann,M.T.
出版情報: Infrared technology and applications XXV : 5-9 April 1999, Orlando, Florida.  pp.626-633,  1999.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3698
2.

国際会議録

国際会議録
Eismann,M.T. ; Schwartz,C.R. ; Cederquist,J.N. ; Hackwell,J.A. ; Huppi,R.J.
出版情報: Imaging spectrometry II : 7-8 August 1996, Denver, Colorado.  pp.91-101,  1996.  Bellingham, WA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2819
3.

国際会議録

国際会議録
Kenton,A.C. ; Schwartz,C.R. ; Horvath,R. ; Cederquist,J.N. ; Nooden,L.S. ; Twede,D.R. ; Nunez,J.A. ; Wright,J.A. ; Salisbury,J.W. ; Montavon,K.
出版情報: Detection and remediation technologies for mines and minelike targets IV : 5-9 April, 1999, Orlando, Florida.  Part2  pp.917-928,  1999.  Bellingham, Washington.  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3710
4.

国際会議録

国際会議録
Bartell,R.J. ; Schwartz,C.R. ; Eismann,M.T. ; Cederquist,J.N. ; Nunez,J.A. ; Sanders,L.C. ; Ratcliff,A.H. ; Lyons,B.W. ; Ingle,S.D.
出版情報: Algorithms for multispectral, hyperspectral, and ultraspectral imagery VI : 24-26 April 2000, Orlando, USA.  pp.105-119,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4049
5.

国際会議録

国際会議録
Cederquist,J.N. ; Schwartz,C.R.
出版情報: Imaging spectrometry III : 28-30 July 1997, San Diego, California.  pp.23-27,  1997.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3118
6.

国際会議録

国際会議録
Schwartz,C.R. ; Eismann,M.T. ; Cederquist,J.N. ; Johnson,R.O.
出版情報: Targets and backgrounds : characterization and representation II : 8-10 April 1996, Orlando, Florida.  pp.286-297,  1996.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2742
7.

国際会議録

国際会議録
Schwartz,C.R. ; Cederquist,J.N. ; Eismann,M.T.
出版情報: Imaging spectrometry II : 7-8 August 1996, Denver, Colorado.  pp.182-194,  1996.  Bellingham, WA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2819