1.

国際会議録
国際会議録
1. SiC Substrate Doping Profiles Using Commercial Optical Scanners
Caldwell, J.D. ; Glembocki, O.J. ; Hansen, D.M. ; Chung, G. ; Hobart, K.D. ; Kub, F.J.
出版情報: Silicon carbide and related materials - 2005 : proceedings of the International Conference on Silicon Carbide and Related Materials - 2005 : Pittsburgh, Pennsylvania, USA : September 18-23 2005.  pp.725-728,  2006.  Stafa-Zuerich.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 527-529
2.

国際会議録
国際会議録
2. Observation of Free Carrier Redistribution Resulting from Stacking Fault Formation in Annealed 4H-SiC
Glembocki, O.J. ; Skowronski, M. ; Prokes, S.M. ; Gaskill, D.K. ; Caldwell, J.D.
出版情報: Silicon carbide and related materials - 2005 : proceedings of the International Conference on Silicon Carbide and Related Materials - 2005 : Pittsburgh, Pennsylvania, USA : September 18-23 2005.  pp.347-350,  2006.  Stafa-Zuerich.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 527-529