1.

国際会議録
国際会議録
1. Minority Carrier Diffusion Length Changes in Si Substrate Due to a High Temperature Annealing
Bellutti, P. ; Calderara, M. ; Porrini, M. ; Cornara, M. ; Olmo, M.
出版情報: Proceedings of the Fifth International Symposium on High Purity Silicon V.  pp.304-312,  1998.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 98-13
2.

国際会議録
国際会議録
2. Interstitial Oxygen Concentration Role in the DW-LOCOS CMOS Technology
Bellutti, P. ; Boscardin, M. ; Zen, M. ; Zordi, N. ; Vrtacnik, D. ; Calderara, M. ; Soncini, G.
出版情報: Proceedings of the Fourth International Symposium on High Purity Silicon.  pp.338-344,  1996.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 96-13