1.

国際会議録
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1. InAs/GaSb superlattice focal plane arrays for high-resolution thermal imaging (Invited Paper) [5957-07]
Rehm, R. ; Walther, M. ; Schmitz, J. ; Reisberm H, ; Fuchs, F. ; Ziegler, J. ; Cabanski, W.
出版情報: Infrared photoelectronics : 30-31 August 2005, Warsaw, Poland.  pp.595707-595707,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5957
2.

国際会議録
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2. InAs/(GaIn)Sb short-period superlattices for focal plane arrays
Rehm, R. ; Walther, M. ; Schmitz, J. ; FleiBner, J. ; Fuchs, F. ; Cabanski, W. ; Ziegler, J.
出版情報: Infrared technology and applications XXXI : 28 March-1 April 2005, Orlando, Florida, USA.  pp.123-130,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5783
3.

国際会議録
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3. IR sensors and imagers in networked operations
Breiter, R. ; Cabanski, W.
出版情報: Infrared technology and applications XXXI : 28 March-1 April 2005, Orlando, Florida, USA.  pp.631-639,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5783
4.

国際会議録
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4. III-V semiconductor quantum well and superlattice detectors
Walther, M. ; Fuchs, F. ; Schneider, H. ; Fleissner, J. ; Schmitz, J. ; Pletschen, W. ; Braunstein, J. ; Ziegler, J. ; Cabanski, W. ; Koidl, P. ; Weimann, G.
出版情報: Infrared technology and applications XXIV : 19-24 July 1998, San Diego, California.  Part 1  pp.348-358,  1998.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3436
5.

国際会議録
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5. Focal plane arrays: MCT, quantum wells, PtSi
Breiter, R. ; Cabanski, W. ; Koch, R. ; Rode, W. ; Ziegler, J.
出版情報: Infrared technology and applications XXIV : 19-24 July 1998, San Diego, California.  Part 1  pp.359-374,  1998.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3436
6.

国際会議録
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6. Technologies of high performance thermography systems
Breiter, R. ; Cabanski, W. ; Mauk, K.H. ; Koch, R. ; Rode, W.
出版情報: Infrared technology and applications XXIII : 20-25 April, 1997, Orlando, Florida.  Part 2  pp.934-942,  1997.  Bellingham, Wash..  SPIE
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3061
7.

国際会議録
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7. Infrared focal plane array based on MWIR/LWIR dual-band QWIPs: detector optimization and array properties
Schneider, H. ; Maier, Th. ; Fleissner, J. ; Walther, M. ; Koidl, P. ; Weimann, G. ; Cabanski, W. ; Finck, M. ; Menger, P. ; Rode, W. ; Ziegler, J.
出版情報: Semiconductor photodetectors II : 25-26 January 2005, San Jose, California, USA.  pp.35-42,  2005.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5726
8.

国際会議録
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8. Third generation focal plane array IR detection modules and applications (Invited Paper)
Cabanski, W. ; Munzberg, M. ; Rode, W. ; Wendler, J. ; Ziegler, J. ; FieiBner, J. ; Fuchs, F. ; Rehm, R. ; Schmitz, J. ; Schneider, H. ; Walther, M.
出版情報: Infrared technology and applications XXXI : 28 March-1 April 2005, Orlando, Florida, USA.  pp.340-349,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5783
9.

国際会議録
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9. High-performance IR detector modules
Wendler, J. ; Cabanski, W. ; Ruehlich, I. ; Ziegler, J.
出版情報: Detectors and associated signal processing : 1-2 October 2003, St. Etienne, France.  pp.37-44,  2004.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5251
10.

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10. Novel silicon/germanium infrared detectors grown by MBE
Presting, H. ; Uschmann, J. ; Hepp, M. ; Thonke, K. ; Sauer, R. ; Kibbel, H. ; Cabanski, W. ; Jaros, M.
出版情報: Infrared technology and applications XXIII : 20-25 April, 1997, Orlando, Florida.  Part 2  pp.789-798,  1997.  Bellingham, Wash..  SPIE
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3061