1.

テクニカルペーパー
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1. EFFICIENT CHIP SIGNATURE CHECKING FOR DIAGNOSING BOUNDARY SCAN SYSTEMS
LUBASZEWSKI, M. ; CASTRO-ALVES, V. ; NICOLAIDIS, M. ; COURTOIS, B.
出版情報: NASA Technical Reports.  pp.1-22,  1992.  National Aeronautics and Space Adminstration
2.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
2. BUILT-IN GENERATION FOR CMOS CIRCUITS
DARLAY, F. ; BASCHIERA, D. ; COURTOIS, B.
出版情報: NASA Technical Reports.  pp.1-28,  1988.  National Aeronautics and Space Adminstration
3.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
3. BULLT IN TEST OF FOLDED PLAS
FERNANDES, A.O. ; COURTOIS, B.
出版情報: NASA Technical Reports.  pp.1-25,  1988.  National Aeronautics and Space Adminstration
4.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
4. B2UBIST: A STRAREGY FOR BOUNDARY SCAN BOARD UNIFIED BIST
LUBASZEWSKI, M. ; COURTOIS, B.
出版情報: NASA Technical Reports.  pp.1-19,  1991.  National Aeronautics and Space Adminstration