1.

国際会議録
国際会議録
1. Recent Developments in Spectroscopic Ellipsometry for Materials and Process Control
J.N. Hilfiker ; B. Johs ; J. Hale ; C.M. Herzinger ; T.E. Tiwald ; C.L. Bungay ; R.A. Synowicki ; G.K. Pribil ; J.A. Woollam
出版情報: 46th annual technical conference proceedings, March 3-8, 2003, San Francisco, California.  pp.365-370,  2003.  Albuquerque, NM.  Society of Vacuum Coaters
シリーズ名: Annual Technical Conference of Society of Vacuum Coaters
シリーズ巻号: 46
2.

国際会議録
国際会議録
2. Spectroscopic Ellipsometry in Optical Coatings Manufacturing
J.N. Hilfiker ; J.S. Hale ; B.D. Johs ; T.E. Tiwald ; R.A. Synowicki ; C.L. Bungay ; J.A. Woollam
出版情報: 44th Annual Technical Conference proceedings, April 21-26, 2001, Philadelphia, Pennsylvania.  pp.295-300,  2001.  Albuquerque, NM.  Society of Vacuum Coaters
シリーズ名: Annual Technical Conference of Society of Vacuum Coaters
シリーズ巻号: 44