1.

国際会議録

国際会議録
Budde,M. ; Nielsen,B.Bech ; Leary,P. ; Goss,J. ; Jones,R. ; Briddon,P.R. ; Oberg,S. ; Breuer,S.J.
出版情報: Defects in semiconductors, icds-19 : proceedings of the 19th International Conference on Defects in Semiconductors, Aveiro, Portugal, July 1997.  Part1  pp.35-40,  1997.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 258-263
2.

国際会議録

国際会議録
Nielsen,B.Bech ; Tanderup,K. ; Budde,M. ; Nieisen,K.Bonde ; Lindstrom,J.L. ; Jones,R. ; Oberg,S. ; Hourahine,B. ; Briddon,P.
出版情報: Defects in semiconductors, icds-19 : proceedings of the 19th International Conference on Defects in Semiconductors, Aveiro, Portugal, July 1997.  Part1  pp.391-398,  1997.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 258-263
3.

国際会議録

国際会議録
Budde,M. ; Nielsen,B.Bech ; Jones,R. ; Oberg,S. ; Goss,S.
出版情報: Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-18, Sendai, Japan, July 23-28, 1995.  pp.879-884,  1995.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 196-201
4.

国際会議録

国際会議録
Nielsen,B.Bech ; Hoffmann,L. ; Budde,M. ; Jones,R. ; Goss,J. ; Oberg,S.
出版情報: Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-18, Sendai, Japan, July 23-28, 1995.  pp.933-938,  1995.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 196-201