1.

国際会議録

国際会議録
Buczkowski, A. ; Kirscht, F.G. ; Koya, H.
出版情報: Proceedings of the Symposium on Crystalline Defects and Contamination, their Impact and Control in Device Manufacturing II.  pp.376-384,  1997.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 97-22
2.

国際会議録

国際会議録
Buczkowski, A. ; Rozgonyi, G. A. ; Shimura, F.
出版情報: Photo-induced space charge effects in semiconductors: electro-optics, photoconductivity, and the photorefractive effect : symposium held April 29-May 1, 1992, San Francisco, California, U.S.A..  pp.235-240,  1992.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 261
3.

国際会議録

国際会議録
Park, J.E. ; Schroder, D.K. ; Tan, SE. ; Choi, B.D. ; Fletcher, M. ; Buczkowski, A. ; Kirscht, F.
出版情報: High Purity Silicon VI : proceedings of the sixth International Symposium.  pp.383-395,  2000.  Bellingham, Wash..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2000-17
4.

国際会議録

国際会議録
Buczkowski, A. ; Shimura, F. ; Rozgonyi, G.A.
出版情報: Proceedings of the Third International Symposium on Cleaning Technology in Semiconductor Device Manufacturing.  pp.495-504,  1994.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 1994-7
5.

国際会議録

国際会議録
Liu, H. X. ; Schneider, T. P. ; Montgomery, J. ; Chen, Y. L. ; Buczkowski, A. ; Shimura, F. ; Nemanich, R. J. ; Maher, D. M. ; Korzec, D. ; Engemann, J.
出版情報: Surface chemical cleaning and passivation for semiconductor processing.  pp.231-,  1993.  Pittsburgh, PA.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 315
6.

国際会議録

国際会議録
Kirscht, F. ; Orschel, B. ; Kim, S. ; Rouvimov, S. ; Snegirev, B. ; Fletcher, M. ; Shabani, M. ; Buczkowski, A.
出版情報: Defect and impurity engineered semiconductors and devices III : symposium held April 1-5, 2002, San Francisco, California, U.S.A..  pp.173-178,  2002.  Warrendale, Pa.  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 719
7.

国際会議録

国際会議録
Daio, H. ; Buczkowski, A. ; Shimura, F.
出版情報: Proceedings of the Symposium on the Degradation of Electronic Devices due to Device Operation as well as Crystalline and Process-Induced Defects.  pp.265-274,  1994.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 1994-1
8.

国際会議録

国際会議録
Braga, N. ; Buczkowski, A. ; Rozgonyi, G.A.
出版情報: Proceedings of the Symposium on the Degradation of Electronic Devices due to Device Operation as well as Crystalline and Process-Induced Defects.  pp.157-166,  1994.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 1994-1
9.

国際会議録

国際会議録
Buczkowski, A. ; Rozgonyi, G.A. ; Shimura, F.
出版情報: Proceedings of the Symposium on Contamination Control and Defect Reduction in Semiconductor Manufacturing II.  pp.1-14,  1994.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 1994-3
10.

国際会議録

国際会議録
Buczkowski, A. ; Orsehel, B. ; Kim, S. ; Rouvimov, S. ; Snegirev, B. ; Fletcher, M. ; Kirscht, F.
出版情報: High purity silicon VII : proceedings of the international symposium.  pp.299-310,  2002.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2002-20