1.

国際会議録
国際会議録
1. DEEP LEVEL DEFECT CHARACTERIZATION OF MBE GROWN InGaAS/GaAS HETEROSTRUCTURES
Buchwald, W.R. ; Zhao, J.H. ; Rong, F.C.
出版情報: Defects in materials : symposium held November 26-29, 1990, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.697-702,  1991.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 209
2.

国際会議録
国際会議録
2. OPTICALLY INDUCED PARAMAGNETISM IN AMORPHOUS HYDROGENATED SILICON NITRIDE THIN FILMS
Warren, W.L. ; Kanichi, J. ; Rong, F.C. ; Buchwald, W.R. ; Harmatz, M.
出版情報: Wide band gap semiconductors : symposium held December 2-6, 1991, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.687-692,  1992.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 242