1.

国際会議録

国際会議録
Mels, W.A. ; Bruijn, M.P. ; Hoevers, H.F.C. ; Frericks, M. ; Kiewiet, F.B. ; Bento, A.C. ; Korte, P.A.J. de
出版情報: EUV, x-ray, and gamma-ray instrumentation for astronomy IX : 22-24 July 1998 San Diego, California.  pp.255-265,  1998.  Bellingham, Wash..  SPIE
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3445
2.

国際会議録

国際会議録
de Korte, P.A.J. ; Hoevers, H.F. ; den Herder, J.W.A. ; Bleeker, J.A.M. ; Tiest, W.M.B. ; Bruijn, M.P. ; Ridder, M.L. ; Wiegerink, R.J. ; Kaastra, J.S. ; van der Kuur, J. ; Meles, W.A.
出版情報: X-Ray and Gamma-Ray Telescopes and Instruments for Astronomy.  PART TWO  pp.779-789,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4851