1.

国際会議録
国際会議録
1. Depth Profiling of Defects In Low Temperature MBE-Grown Silicon
Jackrnan,T.E. ; Aers,C.C. ; McCailrey,J.P. ; Britton,D. ; Willutzkl,P. ; Schultz,P.J. ; Simpson,P.J. ; Mascher,P.
出版情報: Positron annihilation : Proceedings of the 9th International Conference on Positron Annihilation, August 26-31, 1991, Szombathely, Hungary.  Pt.1  pp.301-308,  1992.  Aederlmannsdorf, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 105-110
2.

国際会議録
国際会議録
2. Image compensation for camera and lighting variability
Daley,W. ; Britton,D.
出版情報: Optics in Agriculture, Forestry, and Biological Processing II.  pp.2-12,  1996.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2907