1.

国際会議録

国際会議録
Budde,M. ; Nielsen,B.Bech ; Leary,P. ; Goss,J. ; Jones,R. ; Briddon,P.R. ; Oberg,S. ; Breuer,S.J.
出版情報: Defects in semiconductors, icds-19 : proceedings of the 19th International Conference on Defects in Semiconductors, Aveiro, Portugal, July 1997.  Part1  pp.35-40,  1997.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 258-263
2.

国際会議録

国際会議録
Goss,J.P. ; Jones,R. ; Breuer,S.J. ; Briddon,P.R. ; Oberg,S.
出版情報: Defects in semiconductors, icds-19 : proceedings of the 19th International Conference on Defects in Semiconductors, Aveiro, Portugal, July 1997.  Part2  pp.781-786,  1997.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 258-263
3.

国際会議録

国際会議録
Breuer,S.J. ; Jones,R. ; Oberg,S. ; Briddon,P.R.
出版情報: Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-18, Sendai, Japan, July 23-28, 1995.  pp.951-956,  1995.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 196-201