1.

国際会議録
国際会議録
1. Energy levels associated with the metastable state of EL2
Stievenard,D. ; Delerue,C. ; Bremond,G. ; Guillot,G. ; Azoulay,R. ; Bardeleben,H.J.von ; Bourgoin,J.C. ; Portal,J.C. ; Ranz,E.
出版情報: Proceedings of the 16th International Conference on Defects in Semiconductors : Lehigh University, Bethlehem, Pennsylvania, 22-26 July 1991.  Pt.2  pp.911-916,  1992.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 83-87
2.

国際会議録
国際会議録
2. Photoluminescence Study of Fe2+ and Local Atomic Arrangements in In1-xGaxP Alloys
Louati,A. ; Benyattou,T. ; Roura,P. ; Bremond,G. ; Guillot,G. ; Coquille,R.
出版情報: Proceedings of the 15th International Conference on Defects in Semiconductors : Budapest, Hungary, August 22-26, 1988.  Part2  pp.935-938,  1989.  Aederlmannsdorf, Switzwelns.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 38-41
3.

国際会議録
国際会議録
3. Deep Level Studies in GaAs-Ga0.5Al0.5As Superlattices Grown by MOCVD
Ababou,S. ; Bremond,G. ; Roura,P. ; Mayet,L. ; Guillot,G. ; Coleman,J.J.
出版情報: Proceedings of the 15th International Conference on Defects in Semiconductors : Budapest, Hungary, August 22-26, 1988.  Part3  pp.1397-1402,  1989.  Aederlmannsdorf, Switzwelns.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 38-41
4.

国際会議録
国際会議録
4. Schottky diodes on Si1-x-yGexCy alloys:measurernent of band off-set by DLTS
Serpentini,M. ; Bremond,G. ; Meyer,F.
出版情報: Defects in semiconductors, icds-19 : proceedings of the 19th International Conference on Defects in Semiconductors, Aveiro, Portugal, July 1997.  Part1  pp.165-170,  1997.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 258-263
5.

国際会議録
国際会議録
5. Defect Characterization in P Isotype Si/SiGe/Si Heterostructures by Space Charge Spectroscopy
Bremond,G. ; Souifi,A. ; Degroodt,P. ; Warren,P. ; Dutartre,D. ; Guillot,G.
出版情報: Proceedings of the 17th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-17, Gmunden, Austria, July 18-23, 1993.  Pt.1  pp.495-500,  1994.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 143-147
6.

国際会議録
国際会議録
6. Electrical properties of Yb.Er doped InP
Seghier,D. ; Benyattou,T. ; Bremond,G. ; Ducroquet,F. ; Mar-chand,J.-J. ; Guillot,G. ; Lhomer,C. ; Larnbert,B. ; Toudic,Y. ; Corre,A.Le.
出版情報: Proceedings of the 16th International Conference on Defects in Semiconductors : Lehigh University, Bethlehem, Pennsylvania, 22-26 July 1991.  Pt.2  pp.677-682,  1992.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 83-87