1.

国際会議録

国際会議録
Reinacher,N.M. ; Brandt,M.S. ; Stutzmann,M.
出版情報: Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-18, Sendai, Japan, July 23-28, 1995.  pp.1915-1922,  1995.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 196-201
2.

国際会議録

国際会議録
Brandt,M.S. ; Bayerl,M.W. ; Reinacher,N.M. ; Wimbauer,T. ; Stutzmann,M.
出版情報: Defects in semiconductors, icds-19 : proceedings of the 19th International Conference on Defects in Semiconductors, Aveiro, Portugal, July 1997.  Part2  pp.963-968,  1997.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 258-263
3.

国際会議録

国際会議録
Wimbauer,T. ; Brandt,M.S. ; Bayerl,M.W. ; Stutzma,M. ; Hofmann,D.M. ; Mochizuki,Y. ; Mizuta,M.
出版情報: Defects in semiconductors, icds-19 : proceedings of the 19th International Conference on Defects in Semiconductors, Aveiro, Portugal, July 1997.  Part3  pp.1309-1314,  1997.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 258-263
4.

国際会議録

国際会議録
Stutzmaun,M. ; Brandt,M.S.
出版情報: Proceedings of the 17th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-17, Gmunden, Austria, July 18-23, 1993.  Pt.3  pp.1451-1458,  1994.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 143-147
5.

国際会議録

国際会議録
Rosenbauer,M. ; Brandt,M.S. ; Fuchs,H.D. ; Hopner,A. ; Breitschwerdt,A. ; Stutzmann,M.
出版情報: Optical properties of low dimensional silicon structures.  pp.43-54,  1993.  Dordrecht.  Kluwer Academic Publishers
シリーズ名: NATO ASI series. Series E, Applied sciences
シリーズ巻号: 244