1.

国際会議録
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1. DISTRIBUTION OF MISFIT DISLOCATIONS IN SiGe ON Si MEASURED WITH SYNCHROTRON-RADIATION TOPOGRAPHY
Capano, M. A. ; Hobbs, L. W. ; Hart, L. ; Gordon-Smith, D. ; Bowen, D. K. ; Thomas, C. R.
出版情報: Heteroepitaxy of dissimilar materials : symposium held April 29-May 2, 1991, Anaheim, California, U.S.A..  pp.363-368,  1991.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 221
2.

国際会議録
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2. GRAZING INCIDENCE X-RAY REFLECTOMETRY STUDIES OF CADMIUM ARACHIDATE LANGMUIR-BLODGETT FILMS
Tanner, B. K. ; Bowen, D. K. ; Petty, M. C. ; Swaminathan, S. ; Grunfeld, F.
出版情報: Interface dynamics and growth : symposium held December 2-6, 1991, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.281-286,  1992.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 237
3.

国際会議録
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3. PRINCIPLES AND PERFORMANCE OF A PC-BASED PROGRAM FOR SIMULATION OF GRAZING INCIDENCE X-RAY REFLECTIVITY PROFILES
Wormington, M. ; Bowen, D. K. ; Tanner, B. K.
出版情報: Structure and properties of interfaces in materials : symposium held Decmber[i.e. December] 2-5, 1991, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.119-126,  1992.  Pittsburgh.  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 238
4.

国際会議録
国際会議録
4. THERMAL DEGRADATION OF SiGe INTERFACES STUDIED BY X-RAY REFLECTIVITY AND DIFFRACTION
Hudson, , J. M. ; Powell, A. R. ; Bowen, D. K. ; Wormington, M. ; Tanner, B. K. ; Kubiak, R. A. ; Parker, E. H. C.
出版情報: Thin films : stresses and mechanical properties III : symposium held December 2-5, 1991, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.455-460,  1992.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 239
5.

国際会議録
国際会議録
5. CRYSTALLINITY OF ISOLATED SILICON EPITAXY (ISE) SILICON-ON-INSULATOR LAYERS
Allen, L. T. P. ; Zavrachy, P. M. ; Vu, D. P. ; Batty, M. W. ; Henderson, W. R. ; Boden T. J. ; Bowen, D. K. ; Gorden-Smith D. ; Thomas, C. R. ; Tjahjadi, T.
出版情報: Chemistry and defects in semiconductor heterostructures.  pp.409-414,  1989.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 148
6.

国際会議録
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6. A GRAZING INCIDENCE X-RAY REFLECTOMETER FOR RAPID NONDESTRUCTIVE CHARACTERIZATION OF THIN FILMS AND INTERFACES
Loxley, N. ; Monteiro, A. ; Cooke, M. L.. ; Bowen, D. K. ; Tanner, B. K.
出版情報: Advanced III-V compound semiconductor growth, processing and devices : symposium held Decmber[i.e. December] 2-5, 1991, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.219-224,  1992.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 240
7.

国際会議録
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7. { 224 } PLANE X-RAY DIFFRACTION STUDY OF GaAs ON Si WAFER USING A CONVENTIONAL DOUBLE CRYSTAL DIFFRACTOMER
Lee, J. W. ; Bowen, D. K. ; Salerno, J. P.
出版情報: Heteroepitaxy on silicon II : symposium held April 21-23, 1987, Anaheim, California, U.S.A..  pp.193-200,  1987.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 91
8.

国際会議録
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8. CHARACTERIZATION OF SUB-SURFACE STRUCTURES BY DOUBLE CRYSTAL X-RAY DIFFRACTION
Bowen, D. K. ; Hill, M. J. ; Tanner, B. K.
出版情報: Characterization of defects in materials : symposium held December 1-2, 1986, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.447-454,  1987.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 82
9.

国際会議録
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9. NEW ALGORITHMS FOR RAPID FULL-WAFER MAPPING BY HIGH RESOLUTION DOUBLE AXIS X-RAY DIFFRACTION
Loxley, N. ; Cockerton, S. ; Cooke, L. M. ; Gray, T. ; Tanner, B. K. ; Bowen, D. K.
出版情報: Diagnostic techniques for semiconductor materials processing : Symposium held November 29-December 2, 1993, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.451-,  1994.  Pittsburgh.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 324
10.

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10. Combined Room Temperature Photoluminescence and High Resolution X-ray Diffraction Mapping of Semiconductor Wafers
Cockerton, S. ; Cooke, M. L. ; Bowen, D. K. ; Tanner, B. K.
出版情報: Diagnostic techniques for semiconductor materials processing II : symposium held November 27-30, 1995, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.555-,  1996.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 406