1.

国際会議録

国際会議録
Scholl,P.F. ; Bargeron,C.B. ; Phillips,T.E. ; Wong,T. ; Abubaker,S. ; Groopman,J.D. ; Strickland,P.T. ; Benson,R.C.
出版情報: In-vitro diagnostic instrumentation : 26-27 January 2000, San Jose, California.  pp.204-214,  2000.  Bellingham, Washington.  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3913
2.

国際会議録

国際会議録
Phillips,T.E. ; Bargeron,C.B. ; Benson,R.C. ; Carlson,M.A. ; Fraser,A.B. ; Groopman,J.D. ; Ko,H.W. ; Strickland,P.T. ; Veiky,J.T.
出版情報: In-vitro diagnostic instrumentation : 26-27 January 2000, San Jose, California.  pp.186-192,  2000.  Bellingham, Washington.  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3913
3.

国際会議録

国際会議録
Boies,M.T. ; Green,B.D. ; Galica,G.E. ; Uy,O.M. ; Benson,R.C. ; Silver,D.M. ; Wood,B.E. ; Lesho,J.C. ; Hall,D.F. ; Dyer,J.S.
出版情報: Optical systems contamination and degradation II : effects, measurements, and control : 2-3 August 2000, San Diego, USA.  pp.28-40,  2000.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4096
4.

国際会議録

国際会議録
Galica,G.E. ; Green,B.D. ; Boies,M.T. ; Benson,R.C. ; Uy,O.M. ; Lesho,J.C. ; Wood,B.E. ; Hall,D.F.
出版情報: Optical systems contamination and degradation II : effects, measurements, and control : 2-3 August 2000, San Diego, USA.  pp.21-27,  2000.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4096
5.

国際会議録

国際会議録
Bargeron,C.B. ; Benson,R.C. ; Phillips,T.E. ; Scholl,P.F. ; Abubaker,S. ; Groopman,J.D. ; Strickland,P.T.
出版情報: Clinical diagnostic systems : 21-22 January 2001, San Jose, USA.  pp.40-46,  2001.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4255
6.

国際会議録

国際会議録
Wood,B.E. ; Hall,D.F. ; Lesho,J.C. ; Uy,O.M. ; Dyer,J.S. ; Green,B.D. ; Galica,G.E. ; Boies,M.T. ; Silver,D.M. ; Benson,R.C. ; Erladson,R.E. ; Bertrand,W.T.
出版情報: Photonics for space environments V : 30 July 1997, San Diego.  pp.34-40,  1997.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3124
7.

国際会議録

国際会議録
Boies,M.T. ; Phillips,T.E. ; Erlandson,R.E. ; Silver,D.M. ; Benson,R.C. ; Lesho,J.C ; Uy,O.M. ; Green,B.D. ; Galica,G.E. ; Dyer,J.S. ; Wood,B.E. ; Hall,D.F.
出版情報: Photonics for space environments V : 30 July 1997, San Diego.  pp.103-115,  1997.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3124
8.

国際会議録

国際会議録
Benson,R.C. ; Phillips,T.E. ; Boies,M.T. ; Uy,O.M.
出版情報: Optical System Contamination V, and Stray Light and System Optimization.  PartA  pp.157-168,  1996.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2864
9.

国際会議録

国際会議録
Murphy,J.C. ; Dubbel,D.C. ; Benson,R.C.
出版情報: Optical Security and Counterfeit Deterrence Techniques II.  pp.21-28,  1998.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3314