1.

国際会議録

国際会議録
Bender, S.C. ; Atkins, W.H. ; Clodius, W.B. ; Little, C.K. ; Christensen, R.W.
出版情報: Imaging spectrometry IX : 6-7 August 2003, San Diego, California, USA.  pp.114-124,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5159
2.

国際会議録

国際会議録
Byrd, D.A. ; Atkins, W.H. ; Bender, S.C. ; Christensen, R.W. ; Michaud, F.D.
出版情報: Illumination and source engineering : 23 July 1998, San Diego, California.  pp.9-21,  1998.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3428
3.

国際会議録

国際会議録
Galbraith, A.E. ; Theiler, J.P. ; Bender, S.C.
出版情報: Algorithms and technologies for multispectral, hyperspectral, and ultraspectral imagery IX : 21-24 April 2003, Orlando, Florida, USA.  pp.283-293,  2003.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5093
4.

国際会議録

国際会議録
Kieffer, H.H. ; Stone, T.C. ; Barnes, R.A. ; Bender, S.C. ; Eplee, R.E., Jr. ; Mendenhall, J.A. ; Ong, L.
出版情報: Sensors, systems, and next-generation satellites VI : 23-26 September 2002, Agia Pelagia, Crete, Greece.  pp.287-298,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4881